[發(fā)明專利]支承單元和基板處理設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410181617.8 | 申請日: | 2014-04-30 |
| 公開(公告)號: | CN104134622B | 公開(公告)日: | 2017-08-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 金炯俊;金承奎 | 申請(專利權(quán))人: | 細(xì)美事有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L21/683;H01J37/32 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11227 | 代理人: | 潘煒,田軍鋒 |
| 地址: | 韓國忠*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 支承 單元 處理 設(shè)備 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
此處所公開的本發(fā)明涉及支承單元和基板處理設(shè)備,并且更具體地涉及支承單元以及利用等離子的基板處理設(shè)備。
背景技術(shù)
為了制造半導(dǎo)體裝置,可以在基板上執(zhí)行諸如影印石板術(shù)、刻蝕、灰化、離子注入、薄膜氣相沉積以及清潔之類的各種過程以在基板上形成所需的圖案。在這些過程之中,刻蝕過程為用于移除形成在基板上的薄膜的選擇加熱區(qū)域的過程并且包括濕法刻蝕和干法刻蝕。
為了執(zhí)行干法刻蝕,使用利用等離子的刻蝕設(shè)備。通常,為了形成等離子,電磁場形成在室的內(nèi)部空間中并且將設(shè)置在室中的處理氣體激發(fā)成處于等離子狀態(tài)。
等離子表示由離子、電子以及自由基形成的電離氣體的狀態(tài)。等離子通過非常高的溫度、強電場或射頻(RF)電磁場來產(chǎn)生。在制造半導(dǎo)體裝置的過程中,刻蝕過程通過利用等離子來執(zhí)行。刻蝕過程由于包括在等離子中的與基板碰撞的離子粒子來實現(xiàn)。
通常,為了在基板處理過程期間控制基板的溫度,加熱單元設(shè)置在支承單元中。加熱單元在分成多個加熱區(qū)域的同時設(shè)置在基板支承構(gòu)件中,從而控制用于基板的每個加熱區(qū)域的溫度。對于每個加熱區(qū)域而言,當(dāng)加熱單元設(shè)置為多個加熱單元時,由于必須向所述多個加熱單元分別提供電力,因此設(shè)置了連接至外部電源的多個端子。此處,相應(yīng)的端子形成在與基板的相應(yīng)的加熱區(qū)域?qū)?yīng)的位置上。圖1為一般的靜電吸盤1250。參照圖1,中央部和邊緣部分別包括一對端子1251a和1252a。設(shè)置有端子1251a和1252a的加熱區(qū)域A比沒有設(shè)置端子1251a和1252a的加熱區(qū)域B設(shè)置有更高的溫度。因此,難以均勻地控制加熱區(qū)域A和加熱區(qū)域B的溫度。由于此,基板的溫度不能被控制成處于預(yù)先設(shè)定的溫度。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種基板處理設(shè)備,該基板處理設(shè)備包括能夠在基板處理過程期間精確地控制基板的溫度的支承單元。
本發(fā)明的效果不限于以上所描述的,并且本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員將很清楚地從說明書和附圖中地理解到以上沒有提到的效果。
本發(fā)明的實施方式提供了一種支承基板的支承單元,該支承單元包括本體和加熱單元,其中,該本體包括多個加熱區(qū)域,并且在該本體的頂部表面上設(shè)置有基板,該加熱單元加熱本體。此處,加熱單元包括加熱線路、端子以及連接線路,其中,該加熱線路分別設(shè)置在多個加熱區(qū)域中以彼此獨立地控制多個加熱區(qū)域的溫度,該端子設(shè)置至本體并接收來自外部的電力,該連接線路將加熱線路彼此互相對應(yīng)地連接至端子。另外,端子在俯視圖中設(shè)置在多個加熱區(qū)域中的一個加熱區(qū)域中。
在某些實施方式中,所述多個加熱區(qū)域可以包括中央部以及圍繞該中央部的多個邊緣部,并且端子可以設(shè)置在中央部中。
在其他實施方式中,所述多個加熱區(qū)域可以包括中央部以及圍繞該中央部的一個邊緣部,并且,端子可以設(shè)置在中央部中。
仍然在其他實施方式中,所述多個加熱區(qū)域可以包括中央部以及圍繞該中央部的一個或多個邊緣部,并且,端子可以設(shè)置在中央部中。
還在其他實施方式中,連接線路可以設(shè)置至本體。
還在其他實施方式中,本體還可以包括用于冷卻本體的冷卻流動通道。
在另外的實施方式中,所述多個端子可以設(shè)置成在俯視圖中與冷卻流動通道重疊。
在本發(fā)明的其他實施方式中,基板處理設(shè)備包括:形成有內(nèi)部空間的室;支承單元,該支承單元位于室中并支承基板;氣體供給單元,該氣體供給單元將處理氣體供給到室中;以及等離子源單元,該等離子源單元通過處理氣體產(chǎn)生等離子。此處,該支承單元包括本體和加熱單元,其中,該本體包括多個加熱區(qū)域并且在該本體的頂部表面上設(shè)置有基板,該加熱單元加熱本體。另外,該加熱單元包括:加熱線路,該加熱線路分別設(shè)置在多個加熱區(qū)域中以彼此獨立地控制多個加熱區(qū)域的溫度;端子,該端子設(shè)置至本體并接收來自外部的電力;以及連接線路,該連接線路將加熱線路彼此互相對應(yīng)地連接至端子。另外,端子在俯視圖中設(shè)置在所述多個加熱區(qū)域中的一個加熱區(qū)域中。
在某些實施方式中,所述多個加熱區(qū)域可以包括中央部以及圍繞該中央部的多個邊緣部,并且,端子可以設(shè)置在中央部中。
在其他實施方式中,所述多個加熱區(qū)域可以包括中央部以及圍繞該中央部的一個邊緣部,并且端子可以設(shè)置在中央部中。
仍然在其他實施方式中,所述多個加熱區(qū)域可以包括中央部以及圍繞該中央部的一個或多個邊緣部,并且,端子可以設(shè)置在中央部中。
還在其他實施方式中,連接線路可以設(shè)置至本體。
還在其他實施方式中,本體還可以包括用于冷卻本體的冷卻流動通道。
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- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗設(shè)備、驗證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
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