[發明專利]一種射頻測試座和射頻測試線纜

有效

• 申請號: 201410180990.1
• 申請日: 2014-04-30
• 公開（公告）號: CN105025139B
• 公開（公告）日: 2019-04-12
• 發明（設計）人: 劉鋒昱
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: H04M1/24
• 分類號: H04M1/24
• 代理公司: 北京元本知識產權代理事務所 11308
• 代理人: 秦力軍

1.一種射頻測試座，其特征在于，所述射頻測試座與射頻測試線纜配套使用，所述射頻測試線纜包括射頻測試插頭和安裝在所述射頻測試插頭一側并長于所述射頻測試插頭的絕緣頂針裝置，所述射頻測試座包括：

射頻測試機座；

固定在所述射頻測試機座內的連接裝置，包括在測試時與所述射頻測試插頭連接的固定在所述射頻測試機座內的金屬片及設置在所述金屬片下側兩端的第一接觸點和第二接觸點；

固定在所述射頻測試機座內的連接第一測試裝置的第一彈性裝置和連接第二測試裝置的第二彈性裝置，分別與所述連接裝置的所述第一接觸點和所述第二接觸點彈性連接，在測試時，所述第一彈性裝置或所述第二彈性裝置受所述絕緣頂針裝置頂壓，實現對所述第二測試裝置或所述第一測試裝置的測試。

2.一種射頻測試線纜，其特征在于，所述射頻測試線纜與射頻測試座配套使用，所述射頻測試座包括連接第一測試裝置的第一彈性裝置、連接第二測試裝置的第二彈性裝置、固定在射頻測試機座內的彈性連接所述第一彈性裝置和所述第二彈性裝置的連接裝置，所述射頻測試線纜包括：

固定在射頻測試線末端的射頻測試插頭，在測試時，與所述連接裝置連接；

安裝在所述射頻測試插頭一側并長于所述射頻測試插頭的絕緣頂針裝置，在測試時，頂壓所述第一彈性裝置或所述第二彈性裝置，實現對所述第二測試裝置或所述第一測試裝置的測試。

3.一種手機射頻測試設備，其特征在于，包括：

權利要求1所述的射頻測試座；

權利要求2所述的射頻測試線纜；

測試模塊，用于分別通過射頻測試座中的第一彈性裝置和第二彈性裝置連接的第一測試裝置和第二測試裝置，利用所述射頻測試線纜和所述射頻測試座分別實現對所述第一測試裝置和所述第二測試裝置進行測試。

4.根據權利要求3所述的設備，其特征在于，所述測試模塊包括：

第一測試子模塊，用于利用所述絕緣頂針裝置頂壓所述第二彈性裝置，斷開所述射頻測試線纜與所述第二測試裝置的連接，同時利用所述射頻測試插頭與所述連接裝置相連接，以便經由所述第一彈性裝置連接的所述第一測試裝置進行測試。

5.根據權利要求4所述的設備，其特征在于，所述測試模塊還包括：

第二測試子模塊，用于利用所述絕緣頂針裝置頂壓所述第一彈性裝置，斷開所述射頻測試線纜與所述第一測試裝置的連接，同時利用所述射頻測試插頭與所述連接裝置相連接，以便經由所述第二彈性裝置連接的所述第二測試裝置進行測試。

6.根據權利要求5所述的設備，其特征在于，所述絕緣頂針裝置頂壓所述第二彈性裝置時，斷開所述第二彈性裝置與所述連接裝置的第二接觸點彈性連接，使得所述射頻測試線纜與所述第一測試裝置斷開。

7.根據權利要求5所述的設備，其特征在于，所述絕緣頂針裝置頂壓所述第一彈性裝置時，斷開所述第一彈性裝置與所述連接裝置的第一接觸點彈性連接，使得所述射頻測試線纜與所述第二測試裝置斷開。

8.一種手機射頻測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

第一測試裝置與第二測試裝置分別通過射頻測試座中的連接第一測試裝置的第一彈性裝置和連接第二測試裝置的第二彈性裝置進行連接；

射頻測試線纜的絕緣頂針裝置通過頂壓所述第二彈性裝置，斷開射頻測試線纜與第二測試裝置連接，以便經由所述射頻測試插頭和所述第一彈性裝置對第一測試裝置進行測試；

射頻測試線纜的絕緣頂針裝置通過頂壓所述第一彈性裝置，斷開所述射頻測試線纜與第一測試裝置連接，以便經由所述射頻測試插頭和所述第二彈性裝置對第二測試裝置進行測試；

其中，所述絕緣頂針裝置安裝在所述射頻測試插頭一側并長于所述射頻測試插頭。