[發明專利]細圓柱工件表面粗糙度的快速檢測裝置及其檢測方法

有效

• 申請號: 201410179287.9
• 申請日: 2014-04-30
• 公開（公告）號: CN103913134A
• 公開（公告）日: 2014-07-09
• 發明（設計）人: 陳姚佳
• 申請（專利權）人: 陳姚佳
• 主分類號: G01B11/30
• 分類號: G01B11/30
• 代理公司: 廈門南強之路專利事務所(普通合伙) 35200
• 代理人: 馬應森

1.細圓柱工件表面粗糙度的快速檢測裝置，其特征在于設有激光發射器、CCD攝像頭、細圓柱工件、垂直檢測平板、計算機、細圓柱工件支架、激光發射器支架、轉盤、轉軸和底座；

激光發射器和CCD攝像頭設在垂直檢測平板的前方，CCD攝像頭與計算機通過數據線連接；所述激光發射器固定于激光發射器支架上，激光發射器發射的激光照射在細圓柱工件上并反射在垂直檢測平板上；細圓柱工件固定在細圓柱工件支架頂部的凹槽內，細圓柱工件支架固定在轉盤的邊緣，轉盤設在轉軸上并隨轉軸旋轉，轉軸和激光發射器支架固定在底座兩側。

2.如權利要求1所述細圓柱工件表面粗糙度的快速檢測裝置，其特征在于所述激光發射器支架上設有用于調節激光束高度、水平度和反射點位置的調節螺釘。

3.細圓柱工件表面粗糙度的檢測方法，其特征在于采用如權利要求1所述細圓柱工件表面粗糙度的快速檢測裝置，所述方法包括以下步驟：

1)接通激光發射器電源；

2)調節CCD攝像頭聚焦在垂直檢測平板上；

3)將已知粗糙度的標準細圓柱工件放置在細圓柱工件支架的凹槽內，調整轉盤角度使激光發射器發出的激光照射到標準細圓柱工件上，形成反射在垂直檢測平板上呈現出橢圓或圓形光環，光環不得超出垂直檢測平板范圍；

4)由CCD攝像頭拍照并將圖片保存在計算機中；

5)選擇至少3件已知粗糙度的標準細圓柱工件，重復步驟3)和4)；

6)將采集的圖片每一個像素點的紅(R)、綠(G)、藍(B)三色值提取并保存，根據色度學知識計算每一個像素亮度Y，計算公式如下：

Y＝0.299×R+0.587×G+0.114×B

然后統計最高亮度像素點數N；

7)由于細圓柱工件表面的粗糙度σ與光環的最高像素點數呈非線性關系：σ＝f(N)，根據統計得到的數值N和σ，定標f(N)；

8)用待測細圓柱工件替換步驟3)的標準細圓柱工件，重復步驟3)和4)；

9)利用已定標的細圓柱工件表面的粗糙度與光環的最高像素點數的關系計算待測細圓柱工件表面粗糙度。