[發明專利]一種電子裝備電磁環境適應性能的測試評估方法及設備

在審

• 申請號: 201410179104.3
• 申請日: 2014-04-29
• 公開（公告）號: CN103995192A
• 公開（公告）日: 2014-08-20
• 發明（設計）人: 柯宏發;夏斌;趙繼廣;杜紅梅;劉東;戴增剛
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍裝備學院
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 洛陽市凱旋專利事務所 41112
• 代理人: 陸君

技術領域

本發明涉及電子裝備測試評估技術領域，尤其涉及一種電子裝備電磁環境適應性能的測試評估方法及設備。?

背景技術

目前，電子裝備電磁環境適應性能的測試評估一直是公認的難題之一。目前的評估方法以大量的定性評估為主，少量的電磁環境單個因素適應能力的定量評估為輔；而實際電子裝備工作性能受到n個電磁環境因素的影響，還不能實現電磁環境適應性能的綜合評估。其中n一般為大于等于2、小于10的自然數，本發明的目的就是實現電子裝備對n個電磁環境因素的適應性能的綜合評估。?

發明內容

為克服現有技術的不足，本發明提供一種電子裝備電磁環境適應性能的測試評估方法及設備。?

為實現如上所述的發明目的，本發明采用如下技術方案：?

一種電子裝備電磁環境適應性能的測試評估設備，包括：電磁環境因素的n個模擬信號源、信號合成電路、待評估電子裝備、電磁環境適應性能評估裝置，所述電磁環境因素的n個模擬信號源通過數據傳輸線纜與信號合成電路相連，信號合成電路通過數據傳輸線纜與待評估電子裝備相連，待評估電子裝備通過數據傳輸線纜與電磁環境適應性能評估裝置相連，信號合成電路通過數據傳輸線纜與電磁環境適應性能評估裝置相連。?

一種電子裝備電磁環境適應性能的測試評估設備，所述電磁環境適應?性能評估裝置由數據接口電路、電源電路、復位電路、Flash數據存儲器、基于FPGA的算法程序塊、觸摸屏及其接口電路組成，所述數據接口電路通過Flash數據存儲器、基于FPGA的算法程序塊與觸摸屏接口電路相連，其中，基于FPGA的算法程序塊與復位電路相連，觸摸屏接口電路與觸摸屏相連。?

一種電子裝備電磁環境適應性能的評估方法，其特征在于：采用n個信號源模擬電子裝備所處的電磁環境信號，n個電磁環境模擬信號通過信號合成電路傳輸至待評估電子裝備，處于這n個電磁環境模擬信號中的待評估電子裝備完成任務的能力數據和n個電磁環境模擬信號傳輸至電磁環境適應性能評估裝置，電磁環境適應性能評估裝置根據測試方案設定、測試的電磁環境信號數據與待評估電子裝備完成任務的能力數據能夠對電子裝備的給定電磁環境適應性能進行評估，其具體評估方法是：?

電磁環境具有大小不同水平的電磁環境信號，當每一種電磁環境信號都有n個電磁環境信號，k個水平數，形成了kⁿ種的電磁環境，待評估電子裝備在該電磁環境中完成任務的能力，是該待評估電子裝備的電磁環境適應性能；?

正交設計方法是設定所有電磁環境信號因子組合為樣本空間，基于正交表從樣本空間中挑選樣本點進行電子裝備電磁環境適應性能測試，然后根據測試結果分析各因子不同水平的效應，以此為基礎針對各電磁環境信號因子、各水平搭配形成的電磁環境條件下對電子裝備電磁環境適應性能進行正確評估：?

正交表一般記為L_m(kⁿ)，其中L表示正交表，m表示正交表安排的測?試次數，即正交表的行數，n表示運用該正交表可安排的電磁環境信號因子的個數，即正交表的列數，k表示各電磁環境信號因子的水平數；?

在進行電子裝備電磁環境適應性能測試時，首先選擇對電子裝備電磁環境適應性能結果有影響的電磁環境信號因子、因子的水平，或設計正交表，確定正交表的列數n稍大于或等于選擇的電磁環境信號因子個數，隨機地進行m個測試設置為測試序號m，測試結果為電子裝備完成任務能力y₁,y₂,…,y_m，并記錄于表中y₁,y₂,…,y_m；?

將測試數據對電子裝備電磁環境適應性能進行評估，評估計算方法包括：計算總離差平方和、各列的離差平方和及其自由度、確定試驗誤差平方和，?

①總離差平方和計算，假設給定不同電磁環境信號因子諸水平的搭配組合條件下的測試結果來自正態分布的樣本與相互獨立，且測試結果的期望值可能不同，但是方差相同。在該假設條件下，所得的m個測試結果y₁,y₂,…,y_m是m個相互獨立的正態變量，期望和方差分別為?

E(y_j)＝u_j，D(y_j)＝σ²，j＝1,2,…,m??(1)?