[發(fā)明專利]一種超小型并行處理器電纜測試系統(tǒng)及測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410178517.X
• 申請日: 2014-04-29
• 公開（公告）號: CN103941133B
• 公開（公告）日: 2017-01-04
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李江紅;崔麗娜;馬鵬剛;劉科峰;侯媛媛;付蒙;章莉敏
• 申請（專利權(quán)）人: 西北工業(yè)大學(xué)
• 主分類號: G01R31/01
• 分類號: G01R31/01
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責(zé)任公司61200
• 代理人: 蔡和平

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種超小型并行處理器電纜測試系統(tǒng)及測試方法，更具體的涉及嵌入式計算機技術(shù)、硬件電路模塊化設(shè)計技術(shù)和通訊技術(shù)，特別適用于電纜種類多、芯線數(shù)多、空間受限的場合。

背景技術(shù)

在衛(wèi)星、航天器、飛機、艦船等大型設(shè)備中，廣泛應(yīng)用著各種不同性能、不同規(guī)模的電纜。電纜是武器裝備進(jìn)行信號傳輸和能量傳輸?shù)闹匾d體，裝備和系統(tǒng)設(shè)備之間的電源、信號、控制、通信傳輸也是通過電纜完成的，電纜連接的可靠性直接影響著軍事訓(xùn)練和作戰(zhàn)任務(wù)的完成效率。

測試電纜的傳統(tǒng)方法是人工采取三用表、蜂鳴器等工具進(jìn)行逐點測試，此方法適用于測試電纜種類少、芯線數(shù)少的情況，對于大批量多類型、多芯電纜的測試，則會暴露出測試效率低、準(zhǔn)確性差的缺點。

已有的智能化多芯線電纜測試儀利用單核處理器控制繼電器的通斷實現(xiàn)對電纜的自動測試，解決了手工檢測速度慢、效率低的問題，提高了多芯電纜的檢測速度，仍不能滿足在任務(wù)量大，時間緊迫，空間受限的環(huán)境下測量的需求。

發(fā)明內(nèi)容

針對上述背景技術(shù)中存在的缺陷和不足，本發(fā)明的目的在于提供一種超小型并行處理器電纜測試系統(tǒng)及測試方法，采用多CPU處理系統(tǒng)，雙層大容量切換矩陣，多通道并行加載的基于恒流源高精度內(nèi)阻測試和基于長時高壓極化后的絕緣測試，解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的檢測效率低、準(zhǔn)確性差、空間受限等缺點。采用本發(fā)明的系統(tǒng)能實時動態(tài)反饋檢測信息，回放歷史檢測信息，打印輸出檢測信息，最大限度的降低了檢測成本。另外，電纜測試系統(tǒng)采用了嵌入式技術(shù)，使之更加智能化、小型化。

為了實現(xiàn)上述技術(shù)方案，本發(fā)明采取如下技術(shù)解決方案：

一種超小型并行處理器電纜測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)至少包括：

——動態(tài)獲取反饋裝置，包括觸摸屏a、中央處理器a、電源模塊a、標(biāo)準(zhǔn)USB接口a和通訊模塊a，主要用于輸入檢測電纜信息，根據(jù)信息現(xiàn)場配置檢測任務(wù)，將主端測試裝置反饋的測試信息動態(tài)顯示并打印輸出。

——主端測試裝置，包括中央處理器陣列b、電源模塊b、通訊模塊b、A/D采集模塊b、驅(qū)動器陣列b、繼電器陣列b和電纜轉(zhuǎn)接頭b，用于接收動態(tài)獲取反饋裝置下達(dá)的測試任務(wù)并將采集到的待測電纜信息進(jìn)行程控放大、數(shù)模轉(zhuǎn)換后傳輸至動態(tài)獲取反饋裝置，完成電纜的內(nèi)阻測試和絕緣測試；

——從端測試裝置，包括中央處理器c、電源模塊c、通訊模塊c、A/D采集模塊c、驅(qū)動器陣列c和繼電器陣列c和電纜轉(zhuǎn)接頭c，配合主端測試裝置完成電纜的內(nèi)阻測試；

所述動態(tài)獲取反饋裝置與主端測試裝置通過串口相連，主端測試裝置與從端測試裝置通過光電耦合方式相連。

進(jìn)一步地，所述動態(tài)獲取反饋裝置的中央處理器a分別連接電源模塊a、觸摸屏a、標(biāo)準(zhǔn)USB接口a和通訊模塊a，通訊模塊a與主端測試裝置的通訊模塊b相連接。

進(jìn)一步地，所述主端測試裝置的中央處理器陣列b分別連接電源模塊b、通訊模塊b、A/D采集模塊b和驅(qū)動器陣列b，驅(qū)動器陣列b連接繼電器陣列b，繼電器陣列b通過電纜轉(zhuǎn)接頭b連接至待測電纜。

進(jìn)一步地，所述中央處理器陣列b設(shè)置有1個主控處理器和5個分控處理器，呈2+4陣型雙層分布。

進(jìn)一步地，所述驅(qū)動器陣列b設(shè)有24個，呈12+12陣型雙層分布；繼電器陣列b設(shè)有192個，呈96+96陣型雙層分布；呈2+4陣型雙層分布中央處理器陣列b分別與12+12陣型驅(qū)動器陣列b相連，12+12陣型驅(qū)動器陣列b分別與96+96陣型繼電器陣列b相連，96+96陣型繼電器陣列b分別與驅(qū)動器陣列b和電纜轉(zhuǎn)接頭b相連。

進(jìn)一步地，所述驅(qū)動器陣列b中的每個驅(qū)動器可驅(qū)動繼電器陣列b中的8個繼電器，完成8通道并行絕緣測試。

進(jìn)一步地，所述從端測試裝置的中央處理器c分別連接電源模塊c、通訊模塊c、A/D采集模塊c和驅(qū)動器陣列c，驅(qū)動器陣列c連接繼電器陣列c(14)，繼電器陣列c通過電纜轉(zhuǎn)接頭c連接至待測試電纜。

相應(yīng)地，本發(fā)明進(jìn)而給出了一種超小型并行處理器電纜測試系統(tǒng)的測試方法，包括下述步驟：

1)通過觸摸屏將待測電纜信息輸入至動態(tài)獲取反饋裝置中的中央處理器a中；

2)動態(tài)獲取反饋裝置中的中央處理器a對待測電纜信息進(jìn)行現(xiàn)場配置，通訊模塊a將測試任務(wù)傳給主端測試裝置；