[發明專利]一種X射線底片防止漏評方法

在審

• 申請號: 201410177549.8
• 申請日: 2014-04-29
• 公開（公告）號: CN105021635A
• 公開（公告）日: 2015-11-04
• 發明（設計）人: 關雪松;高巖;劉明亮;潘少偉;任文凱;劉著民;張貴斌;張積偉
• 申請（專利權）人: 哈爾濱飛機工業集團有限責任公司
• 主分類號: G01N23/00
• 分類號: G01N23/00
• 代理公司: 中國航空專利中心 11008
• 代理人: 杜永保;張卓

技術領域

本發明屬于零件無損檢測技術領域，涉及一種X射線底片防止漏評方法。

背景技術

X射線照相檢測使用的底片初始尺寸為430×350mm，檢測過程中需要根據零件的具體形狀和檢測部位裁剪成不同尺寸，而實際檢測的飛機零件尺寸又遠遠超過底片尺寸，且結構復雜，一個零件甚至需要上百張底片，在評定過程中，經常出現漏評一張或幾張底的情況，影響了檢測結果的判定。

發明內容

本發明要解決的技術問題：提供一種X射線底片防止漏評方法，能很好的避免檢測人員出現遺評底片的問題，提高了評定效率。

本發明的技術方案：

第一步，收集一個零件的所有射線底片，按尺寸分類整理放置在評片機器旁；

第二步，準備一個便攜打孔機，清洗油污等污染物，保證清潔干凈；

第三步，在評完底片的非評定區統一選取一處固定位置，檢測人員評完一張底片，即用步驟二中的便攜打孔機在其上打一孔，歸類收集，表明已經完成評定，若在底片的固定位置未發現孔，則該底片尚未進行評定，以此防止底片的漏評。

本發明的有益效果：本發明通過采用事先統一在非評定區確定固定位置，并在底片上打孔的方法，避免了底片的遺漏。減少了出現差錯的機率，提高了檢測質量。

具體實施方式

下面結合具體的實施例，對本發明的評定方式進行描述。

本實施例選用主槳葉，對其進行射線檢測后的底片進行評定，包括以下步驟：

第一步，收集主槳葉進行射線檢測的所有底片122張，裁剪的底片尺寸有210×350mm、120×350mm、180×240mm三種，按尺寸分類整理放置在評片機器旁；

第二步，準備一個便攜打孔機，使用前檢查打孔機是否清潔，如果有可能污染底片的不潔物，進行清洗，保證清潔干凈；

第三步，對于主槳葉的所有底片，在評完底片的非評定區統一選取右上角，檢測人員評完一張底片，即用步驟二中的便攜打孔機在其右上角上打一孔，歸類收集，表明已經完成評定，若在最終整理核查時，在某張主槳葉底片的固定位置未發現小孔，則該底片尚未進行評定，以此有效的防止了主槳葉底片的漏評。