[發(fā)明專利]基于X射線衍射全譜的多晶材料殘余應(yīng)力測(cè)量方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410177546.4
• 申請(qǐng)日: 2014-04-29
• 公開（公告）號(hào): CN105021331A
• 公開（公告）日: 2015-11-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 詹科;鄭學(xué)軍;祝元坤;王丁;韓昊
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海理工大學(xué)
• 主分類號(hào): G01L1/25
• 分類號(hào): G01L1/25;G01N23/20;G06F19/00
• 代理公司: 上海科盛知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31225
• 代理人: 楊元焱

1.一種基于X射線衍射全譜的多晶材料殘余應(yīng)力測(cè)量方法，其特征在于，包括以下步驟：

A、利用X射線衍射儀獲取多晶材料樣品的X射線衍射全譜；

B、建立多晶材料樣品的應(yīng)力-應(yīng)變表達(dá)關(guān)系式，

該應(yīng)力-應(yīng)變關(guān)系表達(dá)式為：

σx=σy=[2C132-C11C13-C12C332C13]·ϵz---(3)]]>

式中，σ_x為沿樣品坐標(biāo)系X軸的應(yīng)力、σ_y為沿樣品坐標(biāo)系Y軸的應(yīng)力，C₁₁、C₁₂、C₁₃、C₃₃為材料的彈性系數(shù)，ε_z為沿樣品坐標(biāo)系Z軸的應(yīng)變；

C、利用X射線衍射全譜求解應(yīng)變值ε_z

求解表達(dá)式為：

ϵz=Σx=1mϵzhxkxlx·Vhxkxlx---(4)]]>

式中，m為晶粒取向數(shù)，為晶粒取向是(h_xk_xl_x)的晶粒體積分?jǐn)?shù)；

D、利用衍射全譜以及多晶材料的彈性系數(shù)求解殘余應(yīng)力

將應(yīng)變值ε_z結(jié)合多晶材料的彈性系數(shù)代入表達(dá)式(3)中求解，得到多晶材料的殘余應(yīng)力。

2.如權(quán)利要求1所述的基于X射線衍射全譜的多晶材料殘余應(yīng)力測(cè)量方法，其特征在于：利用單張X射線衍射譜線以及多晶材料的彈性系數(shù)，結(jié)合建立的多晶材料應(yīng)力應(yīng)變表達(dá)式求解出材料殘余應(yīng)力值。