[發明專利]一種采用多攝像頭的液晶屏缺陷檢測采圖裝置

無效

• 申請號: 201410176077.4
• 申請日: 2014-04-29
• 公開（公告）號: CN103955080A
• 公開（公告）日: 2014-07-30
• 發明（設計）人: 謝煜;劉鵬;劉霖;梁翔;何崗;胡勇;劉娟秀;張靜;陳仕隆;楊雷
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 電子科技大學專利中心 51203
• 代理人: 張楊

技術領域

本發明屬于液晶缺陷檢測領域，特別是針對高分辨率的液晶屏缺陷的檢測。

背景技術

隨著社會生活水平的提高，人們對電子產品的需求與日俱增，這極大的帶動了液晶產業的發展。液晶屏的自動化生產程度，直接制約著其產量與生產成本的高低，而目前的液晶屏缺陷檢測方法主要是依靠人工檢測，手段比較單一，生產廠商通過電測器觀察液晶屏在顯示畫面，憑借肉眼來判斷有無缺陷。這種方式即耗時又費力，而且由于人眼偶爾的疲勞與不確定性，經常造成部分缺陷產品被漏檢，當一批產品的漏檢率過高時，客戶就會要求退貨，從而給生產商造成經濟和時間上的損失。如果能實現液晶屏缺陷檢測的自動化，取代傳統的人工檢測，將大大提高生產效率，降低生產成本。

實現液晶面板缺陷自動化檢測首先是采集液晶屏的顯示畫面，再對采集到的圖像進行分析，找到畫面有缺陷的部位，對應找出液晶屏的缺陷位置。目前對大尺寸液晶顯示屏的缺陷檢測采用單個圖像采集相機，對相機有上億的像素要求，有上億像素相機的價格十分昂貴，這使液晶屏缺陷檢測成本明顯增加。高像素相機的圖像采集速度緩慢，耽誤液晶面板生產進度，增加了成本。

發明內容

本發明的目的是針對背景技術的不足之處改進設計了一種采用多攝像頭的液晶屏缺陷檢測采圖裝置，從而達到采集圖像清晰、成本低、擴展性高、圖像采集快、適用于高分辨率液晶屏檢測的目的。

本發明一種采用多攝像頭的液晶屏缺陷檢測采圖裝置的解決方案是用多個采用陣列方式排布的低像素攝像頭替換背景技術中單個高像素攝像頭，從而實現發明目的。因而本發明包括：基座、設置于基座上的攝像頭、相應的數據線和電源線，其特征在于：基座上有規則的設置有多個攝像頭。

所述的多個攝像頭采用陣列的方式設置在基座上；所述各攝像頭所有參數完全一致；所述攝像頭通過數據線與電腦連接，實現每個攝像頭的自動對焦。

本發明一種采用多攝像頭的液晶屏缺陷檢測采圖裝置通過在基座上按照陣列的方式設置多個低像素的攝像頭，從而使圖像采集裝置具有采集圖像清晰、成本低、擴展性高、圖像采集快、適用于高分辨率液晶屏檢測的效果。

附圖說明

圖1為本發明一種采用多攝像頭的液晶屏缺陷檢測采圖裝置的結構示意圖。

圖中：1.被檢測的液晶屏,2.攝像頭，3.基座。

具體實施方案

本說明書(包括任何附加權利要求、摘要和附圖)中公開的任一特征，除非特別敘述，每個特征只是一系列等效或類似特征中的一個例子，本具體實施方案為針對檢測4寸液晶顯示屏缺陷設計的采圖裝置。

參照圖1，本發明一種采用多攝像頭的液晶屏缺陷檢測采圖裝置，其基座3為方形，尺寸為9mm*9mm*6mm，按照4×4的陣列方式設置16個攝像頭2，相鄰兩攝像頭之間的距離為0。各攝像頭參數完全一致，參數為：鏡頭像素為500萬，分辨率292*1944，焦距3.8mm，各攝像頭均與電腦相連，實現各攝像頭的自動對焦。

被檢測液晶屏顯示1背景畫面為黑，白，紅，綠，藍。被檢測液晶屏與攝像頭透光鏡頭垂直。

本發明采用陣列式攝像頭的液晶屏缺陷檢測采圖裝置，對攝像頭的選取需要滿足一定條件，即攝像頭拍攝的物理視野范圍44，需要大于攝像頭本身尺寸22。

一般攝像頭拍攝的圖片長寬方向的像素比為4:3。因此如果攝像頭拍攝的圖片長方向的像素個數為4a，則寬方向的像素個數為3a，從而可知攝像頭的像素大小：

Q＝4a×3a＝12a²

再假設被拍攝的液晶屏像素的放大倍數為n*n,每個液晶屏上像素大小為d，攝像頭本身尺寸為L；

如果陣列的攝像頭要能拍攝到液晶屏里的所有像素，則需要滿足如下關系式：

所以用于陣列的攝像頭的像素大小應滿足如下關系：

綜上所述，基于陣列式攝像頭的液晶屏缺陷檢測采圖裝置，通過將需要的上億像素分散到多個攝像頭，從而降低了單個采圖設備所需的像素要求，大大降低成本，而且對于檢測各種不同尺寸的液晶屏幕，只需相應的增減所需的攝像頭個數，應用靈活性高，適用范圍廣。