[發(fā)明專利]斷路器和過電壓?欠電壓跳閘裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410175364.3
• 申請日: 2014-03-26
• 公開（公告）號: CN104078926B
• 公開（公告）日: 2017-03-22
• 發(fā)明（設計）人: 山添宏一;田中毅
• 申請（專利權(quán)）人: 松下知識產(chǎn)權(quán)經(jīng)營株式會社
• 主分類號: H02H3/20
• 分類號: H02H3/20;H02H3/24
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司72002
• 代理人: 韓宏,陳松濤

1.一種用于斷路器的過電壓-欠電壓跳閘裝置，所述斷路器包括中斷機構(gòu)，在流向線圈的激勵電流被中斷時，所述中斷機構(gòu)中斷供應給負載裝置的電力，所述過電壓-欠電壓跳閘裝置包括：

延時設定低電壓檢測器，其在商用電源電壓是欠電壓時輸出低電壓檢測信號，并且在所述低電壓檢測信號被輸出預定時間或更長時間時輸出第一激勵電流中斷信號；

延時設定過電壓檢測器，其在所述商用電源電壓是過電壓時輸出過電壓檢測信號，并且在所述過電壓檢測信號被輸出預定時間或更長時間時輸出第二激勵電流中斷信號；以及

開關(guān)電路，其基于所述第一激勵電流中斷信號和所述第二激勵電流中斷信號來中斷供應給所述線圈的所述激勵電流。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的過電壓-欠電壓跳閘裝置，其中：

所述延時設定低電壓檢測器包括：

低電壓檢測電路，其包括第一比較器，所述第一比較器根據(jù)所述商用電源電壓產(chǎn)生第一比較電壓，并且基于所述第一比較電壓與低電壓閾值的比較而輸出所述低電壓檢測信號，以及

第一延時輸出電路，其包括：

第一電容器，

第一充電電路，其在所述第一比較器輸出所述低電壓檢測信號時給所述第一電容器充電，

第一放電電路，其在所述第一比較器不輸出所述低電壓檢測信號時給所述第一電容器放電，以及

第二比較器，其基于所述第一電容器的電位與第一延時輸出閾值的比較而輸出所述第一激勵電流中斷信號；并且

所述延時設定過電壓檢測器包括：

過電壓檢測電路，其包括第三比較器，所述第三比較器根據(jù)所述商用電源電壓產(chǎn)生第二比較電壓，并且基于所述第二比較電壓與過電壓閾值的比較而輸出所述過電壓檢測信號，以及

第二延時輸出電路，包括：

第二電容器，

第二充電電路，其在所述第三比較器輸出所述過電壓檢測信號時給所述第二電容器充電，

第二放電電路，其在所述第三比較器不輸出所述過電壓檢測信號時給所述第二電容器放電，以及

第四比較器，其基于所述第二電容器的電位與第二延時輸出閾值的比較而輸出所述第二激勵電流中斷信號。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的過電壓-欠電壓跳閘裝置，其中所述延時設定低電壓檢測器包括低電壓檢測電路，所述低電壓檢測電路對所述商用電源電壓進行積分以計算所述商用電源電壓的有效值，并基于所述有效值與低電壓閾值的比較而輸出所述低電壓檢測信號。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的過電壓-欠電壓跳閘裝置，其中所述延時設定低電壓檢測器包括低電壓檢測電路，所述低電壓檢測電路對所述商用電源電壓進行積分以計算所述商用電源電壓的平均值，并基于所述平均值與低電壓閾值的比較而輸出所述低電壓檢測信號。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的過電壓-欠電壓跳閘裝置，其中所述開關(guān)電路包括晶體管，在所述第一激勵電流中斷信號或所述第二激勵電流中斷信號停用所述晶體管時，所述晶體管中斷所述激勵電流。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的過電壓-欠電壓跳閘裝置，其中

所述延時設定低電壓檢測器包括低電壓檢測電路，所述低電壓檢測電路根據(jù)所述商用電源電壓產(chǎn)生比較電壓，并且基于所述比較電壓與低電壓閾值的比較而輸出所述低電壓檢測信號，以及

所述低電壓閾值被設定成如下值，該值高于所述中斷機構(gòu)由于所述激勵電流減小而無法起作用時的比較電壓，并高于所述延時設定過電壓檢測器和所述延時設定低電壓檢測器無法起作用時的比較電壓。

7.一種斷路器，包括：

延時設定低電壓檢測器，其在商用電源電壓是欠電壓時輸出低電壓檢測信號，并且在所述低電壓檢測信號被輸出預定時間或更長時間時輸出第一激勵電流中斷信號；

延時設定過電壓檢測器，其在所述商用電源電壓是過電壓時輸出過電壓檢測信號，并且在所述過電壓檢測信號被輸出預定時間或更長時間時輸出第二激勵電流中斷信號；

線圈；

開關(guān)電路，其基于所述第一激勵電流中斷信號和所述第二激勵電流中斷信號來中斷供應至所述線圈的激勵電流；以及

中斷機構(gòu)，其在所述激勵電流被中斷時，中斷供應至負載裝置的電力。