[發明專利]用于真空低溫條件下的超大面源黑體校準系統

在審

• 申請號: 201410174852.2
• 申請日: 2014-04-28
• 公開（公告）號: CN103940519A
• 公開（公告）日: 2014-07-23
• 發明（設計）人: 張玉國;魏建強;孫紅勝;楊旺林;劉亞平
• 申請（專利權）人: 北京振興計量測試研究所
• 主分類號: G01J5/52
• 分類號: G01J5/52
• 代理公司: 北京君尚知識產權代理事務所(普通合伙) 11200
• 代理人: 余長江

1.一種用于真空低溫條件下的超大面源黑體校準系統，其特征在于包括轉接接口、折轉光學系統、成像鏡組、調焦鏡組、紅外面陣探測器、信號處理單元；待測面源黑體與所述折轉光學系統位于同一真空艙內，所述成像鏡組通過所述轉接接口與所述真空艙連接；所述折轉光學系統位于待測面源黑體之前，用于將待測面源黑體的紅外光線反射入所述成像鏡組輸入端口，所述成像鏡組輸出光線經所述調焦鏡組輸入所述紅外面陣探測器，其輸出端經AD信號卡與所述信號處理單元連接。

2.如權利要求1所述的用于真空低溫條件下的超大面源黑體校準系統，其特征在于所述紅外面陣探測器與所述調焦鏡組之間設有一切換裝置和一組均勻性校準黑體，所述切換裝置用于將不同的所述均勻性校準黑體的紅外光線反射入所述紅外面陣探測器。

3.如權利要求1或2所述的用于真空低溫條件下的超大面源黑體校準系統，其特征在于所述折轉光學系統與待校準面源黑體之間或所述折轉光學系統與所述成像鏡組之間設有一可移動的擋屏。

4.如權利要求1所述的用于真空低溫條件下的超大面源黑體校準系統，其特征在于所述成像鏡組與所述調焦鏡組通過機械接口連接。

5.如權利要求4所述的用于真空低溫條件下的超大面源黑體校準系統，其特征在于所述機械接口為利用電機驅動的凸輪接口。

6.一種用于真空低溫條件下的超大面源黑體校準系統，其特征在于包括轉接接口、成像鏡組、調焦鏡組、紅外面陣探測器、信號處理單元；待測面源黑體與所述成像鏡組位于同一真空艙內，所述成像鏡組通過所述轉接接口與所述真空艙連接；所述成像鏡組輸出光線經所述調焦鏡組輸入所述紅外面陣探測器，其輸出端經AD信號卡與所述信號處理單元連接。

7.如權利要求6所述的用于真空低溫條件下的超大面源黑體校準系統，其特征在于所述紅外面陣探測器與所述調焦鏡組之間設有一切換裝置和一組均勻性校準黑體，所述切換裝置用于將不同的所述均勻性校準黑體的紅外光線反射入所述紅外面陣探測器。