[發明專利]一種非接觸式振動絕對位移的快速光學直接測量裝置在審

申請號：	201410173537.8	申請日：	2014-04-28
公開（公告）號：	CN103940502A	公開（公告）日：	2014-07-23
發明（設計）人：	江孝國;王遠;李洪;石金水;李勁	申請（專利權）人：	中國工程物理研究院流體物理研究所
主分類號：	G01H9/00	分類號：	G01H9/00
代理公司：	中國工程物理研究院專利中心 51210	代理人：	翟長明;韓志英
地址：	621999 四***	國省代碼：	四川;51
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種接觸振動絕對位移快速光學直接測量裝置
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【權利要求書】：

1.一種非接觸式振動絕對位移的快速光學直接測量裝置，其特征在于：所述的測量裝置中的光源（1）發出的光線經透鏡（2）產生一個圓柱型平行光束（4），平行光束（4）經光束成型器（3）的限制而形成矩形平行光束，矩形平行光束分別照射在被測量物體（5）和線陣CCD探測器（6）上，線陣CCD探測器（6）將獲得特征位置的電信號輸送到測量系統及信號處理系統（7）進行處理，處理結果再送到計算機（8）處理。

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