[發明專利]在轉接板工藝中采用CMP對基板表面進行平坦化的方法有效
| 申請號: | 201410173271.7 | 申請日: | 2014-04-28 |
| 公開(公告)號: | CN103943491A | 公開(公告)日: | 2014-07-23 |
| 發明(設計)人: | 李婷;顧海洋 | 申請(專利權)人: | 華進半導體封裝先導技術研發中心有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/311 | 分類號: | H01L21/311 |
| 代理公司: | 無錫市大為專利商標事務所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 曹祖良;韓鳳 |
| 地址: | 214135 江蘇省無錫市新區*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 轉接 工藝 采用 cmp 表面 進行 平坦 方法 | ||
1.在轉接板工藝中采用CMP對基板表面進行平坦化的方法,其特征是,包括以下步驟:
(1)提供聚合物基板或表面覆有聚合物的基板,基板上聚合物的厚度在工藝要求的基礎上增加10%~15%作為CMP研磨余量;所述聚合物為聚酰亞胺或苯丙二丁烯;
(2)對上述基板進行固化處理,使聚合物表面接觸角小于70度;?
(3)在深孔刻蝕之前采用CMP對表面進行平坦化處理,達到表面均勻性為1%的平坦化要求;具體為采用2~3步研磨速率由高到低的CMP研磨,并在研磨后進行清洗處理;選用如下耗材:
(a)膠體研磨液,其中研磨顆粒包括氧化硅、氧化鈰,或氧化鋁;研磨顆粒大小范圍為5~160nm;研磨液中研磨顆粒的含量在0.01wt%~20wt%范圍內;PH應大于7;研磨液中包括20~80oC的溫度范圍內粘度穩定在18?mPa﹒s?~300?mPa﹒s之間的物質;
(b)活化聚合物表面,加快聚合物水解的添加劑,包括:去離子水,氫氧化鉀,或四甲基氫氧化銨;
(c)硬度在50?shore?D和60?shore?D之間的硬質研磨墊與硬度小于50?shore?D的軟性研磨墊配合使用。
2.如權利要求1所述在轉接板工藝中采用CMP對基板表面進行平坦化的方法,其特征是,步驟(2)對基板處理的方法是:在125~250攝氏度溫度條件下烘烤30~60分鐘。
3.如權利要求1所述在轉接板工藝中采用CMP對基板表面進行平坦化的方法,其特征是,步驟(3)所述2步CMP研磨工藝過程如下:
(3.1)?在第一研磨臺采用壓力3psi~4psi,轉速100rpm~130rpm,研磨液流量在150ml/min~300ml/min之間,在此條件下用大于1um/min的研磨速率對不平整的基板表面進行第一步粗略研磨;
(3.2)?在第二研磨臺采用壓力0.2psi~2psi,轉速40~70rpm在軟性研磨墊上以低于1um/min的研磨速率進行第二步CMP研磨工藝。
4.如權利要求1所述在轉接板工藝中采用CMP對基板表面進行平坦化的方法,其特征是,步驟(3)所述3步CMP研磨的工藝過程如下:
(3.1)?在第一研磨臺采用研磨頭壓力3psi~4psi,轉速100rpm~130rpm,研磨液流量在150ml/min~300ml/min之間,在此條件下用大于1um/min的研磨速率對不平整的基板表面進行第一步粗略研磨;
(3.2)?在第二研磨臺采用2psi~3psi的研磨頭壓力,轉速100rpm~130rpm,研磨液流量150ml/min~300ml/min的工藝條件,用比第一步研磨低的研磨速率進行第二步精磨;
(3.3)?在第三研磨臺采用壓力0.2psi~2psi,轉速40~70rpm在軟性研磨墊上進行第三步CMP研磨工藝。
5.如權利要求1所述在轉接板工藝中采用CMP對基板表面進行平坦化的方法,其特征是,步驟(3)所述研磨墊所用的微孔聚氨酯材料密度為0.13~1.6g/cm3。
6.如權利要求1在轉接板工藝中采用CMP對基板表面進行平坦化的方法,其特征是,步驟(3)所述研磨液中所含粘性穩定的物質為甘油。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于華進半導體封裝先導技術研發中心有限公司,未經華進半導體封裝先導技術研發中心有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410173271.7/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





