[發明專利]測量SF6分解氣體中SOF2濃度的方法無效
| 申請號： | 201410171527.0 | 申請日： | 2014-04-25 |
| 公開（公告）號： | CN103900984A | 公開（公告）日： | 2014-07-02 |
| 發明（設計）人： | 魯鋼;劉洋;宋杲;顏湘蓮;季嚴松;蘇鎮西;楊韌;趙也;姚強 | 申請（專利權）人： | 國家電網公司;黑龍江省電力科學研究院;中國電力科學研究院;國網安徽省電力公司電力科學研究院;國網陜西省電力公司電力科學研究院;國網重慶市電力公司電力科學研究院 |
| 主分類號： | G01N21/31 | 分類號： | G01N21/31 |
| 代理公司： | 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109 | 代理人： | 張利明 |
| 地址： | 100031 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測量 sf sub 分解 氣體 sof 濃度 方法 | ||
1.測量SF6分解氣體中SOF2濃度的方法，其特征在于，該方法是基于下述裝置實現的，所述裝置包括：18.5μm激光器(1)、第一聚光鏡(2)、樣品池(3)、第二聚光鏡(4)和光譜儀(5)；
18.5μm激光器(1)發出的激光經過第一聚光鏡(2)透射至樣品池(3)中，樣品池(3)將該激光輸送至第二聚光鏡(4)上，第二聚光鏡(4)將該激光輸送至光譜儀(5)的入射狹縫中；
所述光譜儀(5)的入射狹縫位于第二聚光鏡(4)的焦點處；
所述樣品池(3)用于填充待檢測氣體；
所述測量SF6分解氣體中SOF2濃度的方法包括以下步驟：
步驟一：在樣品池(3)中充入大氣，打開18.5μm激光器1，通過光譜儀(5)獲得大氣的光譜I0(λ)；
步驟二：在樣品池(3)中充入待檢測的SF6分解氣體，通過光譜儀(5)獲得SF6分解氣體的光譜I(λ)；
步驟三：依據比爾定律，利用步驟一獲得的大氣的光譜I0(λ)和步驟二獲得的SF6分解氣體的光譜I(λ)，獲得充入樣品池(3)中的待測SOF2氣體的濃度N。
2.根據權利要求1所述的測量SF6分解氣體中SOF2濃度的方法，其特征在于，18.5μm激光器(1)發出的激光經過第一石英聚光鏡(2)后，獲得的輸出光為平行光。
3.根據權利要求1所述的測量SF6分解氣體中SOF2濃度的方法，其特征在于，光譜儀(5)為maya2kPRO型光譜儀。
4.根據權利要求1所述的測量SF6分解氣體中SOF2濃度的方法，其特征在于，所述第一聚光鏡(2)和第二聚光鏡(4)均為石英透鏡。
5.根據權利要求1、2、3或4所述的測量SF6分解氣體中SOF2濃度的方法，其特征在于，樣品池(3)為兩端密封的圓筒結構。
6.根據權利要求5所述的測量SF6分解氣體中SOF2濃度的方法，其特征在于，樣品池(3)的內徑為30mm，長度為40mm。
7.根據權利要求1所述的測量SF6分解氣體中SOF2濃度的方法，其特征在于，步驟三中根據比爾定律獲得待測SOF2氣體濃度N的方法為：對公式I(λ)＝I0(λ)eσN求解，獲得SOF2氣體濃度N，公式中，σ為待測氣體SOF2在18.5μm激光下的吸收截面。
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