[發(fā)明專利]光學(xué)式非破壞檢查方法以及光學(xué)式非破壞檢查裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410168755.2
• 申請日: 2014-04-24
• 公開（公告）號: CN104155343A
• 公開（公告）日: 2014-11-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 松本直樹;吉田航也
• 申請（專利權(quán)）人: 株式會社捷太格特
• 主分類號: G01N25/72
• 分類號: G01N25/72
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 李洋;蘇琳琳

1.一種光學(xué)式非破壞檢查方法，其具有如下步驟：

加熱用激光照射，其根據(jù)控制單元對加熱用激光源進(jìn)行控制，朝向設(shè)定在測定對象物上的測定點(diǎn)照射加熱用激光；

放射紅外線檢測，其中通過所述控制單元，使用紅外線檢測單元對從所述測定點(diǎn)放射的光中取出的規(guī)定紅外線波長的紅外線進(jìn)行檢測；

溫度上升特性測定，其中通過所述控制單元，基于由所述放射紅外線檢測步驟中檢測出的檢測值與作為所述加熱用激光的照射時(shí)間的加熱時(shí)間，對作為與加熱時(shí)間對應(yīng)的所述測定點(diǎn)的溫度上升狀態(tài)的溫度上升特性進(jìn)行測定，

所述光學(xué)式非破壞檢查方法的特征在于，

所述光學(xué)式非破壞檢查方法使用光學(xué)式非破壞檢查裝置來執(zhí)行，

所述光學(xué)式非破壞檢查裝置具有：

加熱用激光源，其射出設(shè)定為不破壞測定對象物地對測定對象物進(jìn)行加熱的輸出的加熱激光波長的加熱用激光；

能夠檢測紅外線的至少一個(gè)紅外線檢測單元；

控制單元，其對所述加熱用激光源進(jìn)行控制，并且獲取來自所述紅外線檢測單元的檢測信號；以及

存儲單元，其存儲有參數(shù)狀態(tài)-時(shí)間常數(shù)特性，定義了與應(yīng)該判定的測定對象物的狀態(tài)對應(yīng)的參數(shù)的狀態(tài)，所述溫度上升特性與該參數(shù)的狀態(tài)對應(yīng)地不同，所述參數(shù)狀態(tài)-時(shí)間常數(shù)特性是表示所述溫度上升特性的曲線形狀的時(shí)間常數(shù)存在與所述參數(shù)的狀態(tài)建立聯(lián)系而成的。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)式非破壞檢查方法，其特征在于，還具有如下判定：

在所述控制單元中，基于測定出的所述溫度上升特性中的所述曲線形狀求得時(shí)間常數(shù)，并基于求得的時(shí)間常數(shù)與存儲于所述存儲單元的所述參數(shù)狀態(tài)-時(shí)間常數(shù)特性，對測定對象物的所述參數(shù)的狀態(tài)進(jìn)行判定，其中，

求得所述時(shí)間常數(shù)時(shí)的所述曲線形狀的解析對象區(qū)間是從加熱開始時(shí)刻到直至飽和溫度的時(shí)刻的區(qū)間，

所述飽和溫度是指在相對于時(shí)間變化的溫度變化的圖線中圖表的傾斜程度成為規(guī)定值以下的溫度。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)式非破壞檢查方法，其特征在于，還具備如下判定：

在所述控制單元中，以測定出的所述溫度上升特性中的所述飽和溫度成為預(yù)先設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)化飽和溫度的方式，使所述溫度上升特性在溫度方向上壓縮或者伸長，求得標(biāo)準(zhǔn)化溫度上升特性，

基于求得的所述標(biāo)準(zhǔn)化溫度上升特性中的曲線形狀求得時(shí)間常數(shù)或者與時(shí)間常數(shù)有關(guān)的信息，

基于求得的時(shí)間常數(shù)或者與時(shí)間常數(shù)有關(guān)的信息與存儲于所述存儲單元的所述參數(shù)狀態(tài)-時(shí)間常數(shù)特性，對測定對象物的所述參數(shù)的狀態(tài)進(jìn)行判定，

求得所述時(shí)間常數(shù)或者與時(shí)間常數(shù)有關(guān)的信息時(shí)的所述曲線形狀的解析對象區(qū)間是從加熱開始時(shí)刻到達(dá)到所述標(biāo)準(zhǔn)化飽和溫度的時(shí)刻。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光學(xué)式非破壞檢查方法，其特征在于，

與所述時(shí)間常數(shù)有關(guān)的信息是在所述標(biāo)準(zhǔn)化溫度上升特性中被溫度上升曲線形狀圍起的區(qū)域的面積，

所述面積是針對在從加熱開始時(shí)刻到達(dá)到所述標(biāo)準(zhǔn)化飽和溫度的時(shí)刻的區(qū)域內(nèi)被計(jì)算的。

5.根據(jù)權(quán)利要求1～4所述的光學(xué)式非破壞檢查方法，其特征在于，

所述測定對象物是包括對兩個(gè)部件進(jìn)行接合的接合部的接合構(gòu)造部位，

所述測定點(diǎn)設(shè)定于所述兩個(gè)部件中的一個(gè)部件的表面，

所述參數(shù)的狀態(tài)是所述兩個(gè)部件的接合部的面積的大小，

在所述控制單元中，執(zhí)行所述判定步驟，從而對所述兩個(gè)部件的接合部的面積是否在允許范圍內(nèi)進(jìn)行判定。

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光學(xué)式非破壞檢查方法，其特征在于，

使用能夠顯示基于來自所述控制單元的輸出信號的圖像的顯示單元，

使與所述判定的結(jié)果有關(guān)的信息顯示于所述顯示單元。

7.一種光學(xué)式非破壞檢查裝置，其特征在于，

是實(shí)施權(quán)利要求1所記載的光學(xué)式非破壞檢查方法的裝置。