[發明專利]一種精確測量中性原子速度分布的方法和裝置

無效

• 申請號: 201410168582.4
• 申請日: 2014-04-24
• 公開（公告）號: CN103926227A
• 公開（公告）日: 2014-07-16
• 發明（設計）人: 高峰;許朋;劉輝;常宏
• 申請（專利權）人: 中國科學院國家授時中心
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;G01N21/01
• 代理公司: 西北工業大學專利中心 61204
• 代理人: 顧潮琪

1.一種精確測量中性原子速度分布的方法，其特征在于包括下述步驟：兩路鋸齒函數信號通過頻率調整和功率放大后，控制可掃頻激光調制器對兩路投射到待測鍶原子樣品的窄線寬探測激光進行頻率掃描，兩路窄線寬探測激光分別作為探測激光和飽和激光，完全獨立但相位相同，通過改變兩路窄線寬探測激光的頻率失諧值對不同速度的原子進行測量。

2.一種實現權利要求1所述方法的精確測量中性原子速度分布的裝置，包括兩個可掃頻激光調制器、兩個壓控晶體振蕩器、低頻函數信號發生器和光電探測器，其特征在于：所述的低頻函數信號發生器輸出兩路鋸齒函數信號，分別輸入到兩個獨立的壓控晶體振蕩器，壓控晶體振蕩器的輸出控制可掃頻激光調制器對兩路窄線寬探測激光進行頻率掃描，兩路窄線寬探測激光分別作為探測激光和飽和激光，完全獨立但相位相同，兩路窄線寬探測激光通過若干光學反射鏡投射到待測鍶原子樣品的原子探測區域，產生飽和凹陷熒光信號，光電探測器探測飽和凹陷熒光信號。

3.根據權利要求1所述的精確測量中性原子速度分布的裝置，其特征在于：所述鋸齒函數信號的頻率為0.1Hz，電壓幅度為100mV。

4.根據權利要求1所述的精確測量中性原子速度分布的裝置，其特征在于：所述兩路窄線寬探測激光進行頻率掃描的掃描范圍為20MHz。