[發(fā)明專利]一種霧霾顆粒物探測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410168576.9 | 申請日: | 2014-04-24 |
| 公開(公告)號: | CN103940713A | 公開(公告)日: | 2014-07-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張利勝;孫喆;楊桂霞;李志鵬;方炎;王培杰;姜小凡;賈冀 | 申請(專利權(quán))人: | 張利勝 |
| 主分類號: | G01N15/06 | 分類號: | G01N15/06 |
| 代理公司: | 北京匯智勝知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 11346 | 代理人: | 朱登河 |
| 地址: | 100048 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 顆粒 物探 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種大氣污染監(jiān)測領(lǐng)域,特別是涉及一種霧霾顆粒物探測裝置。
背景技術(shù)
當前,以可吸入顆粒物(PM10)、細顆粒物(PM2.5)為特征污染物的區(qū)域性大氣環(huán)境問題日益突出。隨著我國工業(yè)化、城鎮(zhèn)化的深入推進,能源資源消耗持續(xù)增加,大氣污染防治壓力繼續(xù)加大。大氣質(zhì)量作為環(huán)境問題中不可或缺的一部分影響著我們的身體健康及日常生活,在當前中國城市空氣質(zhì)量不斷惡化的情況下,亟需一條行之有效的方法來監(jiān)察大氣的污染。
光散射法探測霧靄顆粒物是一種被證明有效的大氣污染探測方法。光散射法利用空氣中的顆粒對不同波長的激光產(chǎn)生散射的現(xiàn)象,利用散射的光信號轉(zhuǎn)化為電信號,通過相關(guān)的數(shù)學公式,將其轉(zhuǎn)化成空氣中實際的顆粒物數(shù)量。最具代表性的是美國Dylos公司推出的Dylos-DC1700,它選用綠激光作為激光光源,通過光敏材料將光信號轉(zhuǎn)化為高低電平的電信號,進而粗略統(tǒng)計出空氣中所含顆粒物的數(shù)量。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種霧霾顆粒物探測裝置,通過新型的裝置構(gòu)造來提高霧霾顆粒物探測的準確度。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供一種霧霾顆粒物探測裝置,包括探測設(shè)備和顯示設(shè)備,所述探測設(shè)備用于探測大氣中的霧靄顆粒產(chǎn)生電信號,傳輸所述電信號至所述顯示設(shè)備,所述顯示設(shè)備用于顯示探測結(jié)果,所述探測設(shè)備包括進氣口、第一光隔離室、暗室、出氣口、第二光隔離室、激光器、全反射鏡、光探測芯片、信號處理電路板,其中
所述第一光隔離室的橫向的一側(cè)具有進氣口,另一側(cè)封閉,所述第一光隔離室的縱向具有進氣口,使得大氣通過進氣口進入所述暗室,所述第一光隔離室隔離所述霧霾顆粒物探測裝置外的光線;
所述第二光隔離室的橫向的一側(cè)具有與所述暗室連通的出氣口,另一側(cè)封閉,所述第二光隔離室的縱向具有出氣口,使得大氣通過所述暗室后經(jīng)由出氣口離開,所述第二光隔離室隔離所述霧霾顆粒物探測裝置外的光線;
所述激光器用于產(chǎn)生激光,所述全反射鏡用于使所述激光多次經(jīng)過所述光探測芯片表面;
所述光探測芯片用于接收被霧靄顆粒散射的激光,產(chǎn)生電信號并傳輸至所述信號處理電路板;
所述信號處理電路板用于處理電信號并傳輸至所述顯示設(shè)備。
優(yōu)選地,所述第一光隔離室和/或所述第二光隔離室為長方體結(jié)構(gòu)。
優(yōu)選地,該霧霾顆粒物探測裝置還包括第一輔助光隔離室,其在縱向具有與所述第一光隔離室連通的進氣口,在橫向具有與所述暗室連通的進氣口。
優(yōu)選地,該霧霾顆粒物探測裝置還包括第二輔助光隔離室,其具有與所述第二光隔離室的縱向連通的所述出氣口,還具有與外界連通的出氣口。
優(yōu)選地,所述第二輔助光隔離室內(nèi)設(shè)置所述信號處理電路板。
優(yōu)選地,所述第二光隔離室內(nèi)設(shè)置所述信號處理電路板。
優(yōu)選地,該霧霾顆粒物探測裝置還包括風扇,用于在進氣口側(cè)向所述霧霾顆粒物探測裝置內(nèi)吹風。
基于上述技術(shù)方案,本發(fā)明的優(yōu)點是:
提供一種新型的霧霾顆粒物探測裝置,在暗室內(nèi)進行光探測,避免外界光對探測的影響,并且利用全反射技術(shù)增加光通過探測芯片表面的次數(shù),從而提高光探測的準確性和靈敏度。
附圖說明
圖1為本發(fā)明中提供的霧霾顆粒物探測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2示出本發(fā)明一實施例提供的霧霾顆粒物探測裝置中的探測設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3示出本發(fā)明另一實施例提供的霧霾顆粒物探測裝置中的探測設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
為使本發(fā)明實施的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚,下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖,對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行更加詳細的描述。在附圖中,自始至終相同或類似的標號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例,而不是全部的實施例。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的,旨在用于解釋本發(fā)明,而不能理解為對本發(fā)明的限制。基于本發(fā)明中的實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發(fā)明保護的范圍。下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的實施例進行詳細說明。
當激光束通過光探測芯片表面,根據(jù)光散射的原理,空氣中的顆粒物和激光作用產(chǎn)生散射光,散射光強度和顆粒物的濃度成正比。根據(jù)薄膜所探測散射光強度就可以得出空氣中顆粒物的濃度。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于張利勝,未經(jīng)張利勝許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410168576.9/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種水晶頭拆卸裝置及其使用方法和機箱系統(tǒng)
- 下一篇:一種新型插頭





