[發明專利]一種腳跟試塊

有效

• 申請號: 201410166754.4
• 申請日: 2014-04-23
• 公開（公告）號: CN103954695A
• 公開（公告）日: 2014-07-30
• 發明（設計）人: 張利;陳昌華
• 申請（專利權）人: 南京迪威爾高端制造股份有限公司
• 主分類號: G01N29/30
• 分類號: G01N29/30
• 代理公司: 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204
• 代理人: 張學彪

1.一種腳跟試塊，其特征在于，包括半圓柱體（1）、第一平板（2）和第二平板（3），所述半圓柱體（1）的側面包括圓弧形面和第一平面，所述第一平面一側設置有所述第一平板（2）和第二平板（3），所述第一平板（2）的各部分厚度均相同，所述第二平板（3）的各部分厚度均相同，所述第一平板（2）和第二平板（3）均與所述第一平面平行設置，所述第一平板（2）和第二平板（3）分別設置在所述半圓柱體（1）的母線兩側，所述第一平板（2）的厚度小于所述第二平板（3）的厚度。

2.如權利要求1所述的腳跟試塊，其特征在于，還包括第三平板（4），所述第三平板（4）的各部分厚度均相同，所述第三平板（4）與所述第一平板（2）平行設置，所述第三平板（4）與所述第一平板（2）之間具有空隙，所述第一平板（2）、第三平板（4）和空隙的厚度總和等于第二平板（3）的厚度。

3.如權利要求2所述的腳跟試塊，其特征在于，所述空隙的厚度為5mm±0.5mm。

4.如權利要求1所述的腳跟試塊，其特征在于，所述第一平板（2）的的厚度為30mm±0.1?mm，所述第二平板（3）的的厚度為60mm±0.1?mm。

5.如權利要求1所述的腳跟試塊，其特征在于，所述半圓柱體（1）的長度、第一平板（2）的寬度和第二平板（3）的寬度相同。

6.如權利要求1所述的腳跟試塊，其特征在于，所述半圓柱體（1）的上表面和下表面均為平面，所述上表面和/或下表面上設置有角度刻度。

7.如權利要求1所述的腳跟試塊，其特征在于，所述第一平板（2）和第二平板（3）均為長方體。

8.如權利要求7所述的腳跟試塊，其特征在于，所述半圓柱體（1）的半徑為R，所述第一平板（2）和第二平板（3）的長度均為R。

9.如權利要求7所述的腳跟試塊，其特征在于，所述半圓柱體（1）的長度、所述第一平板（2）的寬度和所述第二平板（3）的寬度均大于等于25mm。