[發明專利]多景深圖像處理方法有效
| 申請號: | 201410166493.6 | 申請日: | 2014-04-23 |
| 公開(公告)號: | CN103927755A | 公開(公告)日: | 2014-07-16 |
| 發明(設計)人: | 洪金龍 | 申請(專利權)人: | 東莞市天勤儀器有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00 |
| 代理公司: | 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 趙蕊紅 |
| 地址: | 523000 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 景深 圖像 處理 方法 | ||
技術領域
本發明涉及影像測量技術領域,特別是涉及一種多景深圖像處理方法。?
背景技術
隨著技術的進步和發展,影像測量已經廣泛應用于工業技術的各個方面。由于影像測量具有迅速、直接、準確等優點,影像自動測量儀器也隨之不斷改進。
現有技術中的影像測量儀通常設置有一水平基座,水平基座上設置有測試平臺,與水平基座垂直的方向設置有影像測量機構,通過調整影像測量機構相對于測試平臺上檢測樣品的相對位置,對檢測樣品的不同過部位進行成像。
對一個測試樣品進行檢測過程中,當調整好影像機構與測試樣品之間的位置后,影像機構如鏡頭所拍攝的測試樣品表面的影像是唯一的。對于表面絕對平整的檢測樣品,影像機構與測試樣品之間的縱向距離對檢測樣品表面的圖像不會有影像。而多數檢測樣品表面都存在一定的凹凸,即存在不同的景深,這樣在固定的縱向檢測距離下,影像機構所成的像對應檢測樣品不同位置處的清晰度就會存在誤差。難以獲得檢測樣品表面完整清晰的圖像。
因此,針對現有技術不足,提供一種能夠體現檢測樣品表面清晰圖像的多景深圖像處理方法以克服現有技術不足甚為必要。
發明內容
本發明的目的在于避免現有技術的不足之處而提供一種多景深圖像處理方法,該多景深圖像處理方法能夠獲得檢測樣品每個點的清晰圖像。?
本發明的上述目的通過如下技術手段實現。???
一種多景深圖像處理方法,包括如下步驟,
(1)將測試平臺所在的平面定義為水平面,選擇水平面內兩條相互垂直的直線分別定義為X軸和Y軸,將過X軸和Y軸的交點且垂直于水平面的直線定義為Z軸,調整成像系統在Z軸的m個不同位置處分別獲得不同高度處對應的檢測樣品的測試圖像Cm,m為大于2的自然數;
(2)將每幅圖像Cm按照相同的方式分割成N行S列,每幅圖像分別分割為N×S塊,N和S均為大于2的自然數;
將測試圖像Cm中第i行第p列的圖像塊命名為子圖像NmiSmp,其中,2≤i≤N,?2≤p?≤N;
(3)根據子圖像NmiSmp合成結果圖像。
上述步驟(3)具體是,依次令i、p固定,從m幅子圖像NmiSmp中選擇最清晰的圖像作為結果圖像的第i行第p列的結果子圖像,由所獲得的N×S塊結果子圖像拼成結果圖像。
優選的,5≤m≤200。
優選的,步驟(2)將每幅圖像Cm的行平均分成N行,將每幅圖像Cm的列平均分成S列。
優選的,3≤N≤200,3≤S≤200。
優選的,上述步驟(1)中成像系統從上往下移動,依次在Z軸的m個不同位置處獲得不同的測試圖像Cm。
另一優選的,上述步驟(1)中成像系統從下往上移動,依次在Z軸的m個不同位置處獲得不同的測試圖像Cm。
另一優選的,上述步驟(1)中成像系統往返移動,依次在Z軸的m個不同位置處獲得不同的測試圖像Cm。
????本發明的多景深圖像處理方法,包括如下步驟,(1)將測試平臺所在的平面定義為水平面,選擇水平面內兩條相互垂直的直線分別定義為X軸和Y軸,將過X軸和Y軸的交點且垂直于水平面的直線定義為Z軸,調整成像系統在Z軸的m個不同位置處分別獲得不同高度處對應的檢測樣品的測試圖像Cm,m為大于2的自然數;(2)將每幅圖像Cm按照相同的方式分割成N行S列,每幅圖像分別分割為N×S塊,N和S均為大于2的自然數;將測試圖像Cm中第i行第p列的圖像塊命名為子圖像NmiSmp,其中,2≤i≤N,?2≤p?≤N;(3)根據子圖像NmiSmp合成結果圖像。本發明提供的多景深圖像處理方法,能夠反映表面具有凹凸的檢測樣品的表面情況,具有表面圖像信息準確的特點。
附圖說明
利用附圖對本發明作進一步的說明,但附圖中的內容不構成對本發明的任何限制。
圖1是本發明一種多景深圖像處理方法的示意圖。
具體實施方式
結合以下實施例對本發明作進一步描述。
實施例1。
一種多景深圖像處理方法,如圖1所示,包括以下步驟。
(1)將測試平臺所在的平面定義為水平面,選擇水平面內兩條相互垂直的直線分別定義為X軸和Y軸,將過X軸和Y軸的交點且垂直于水平面的直線定義為Z軸,調整成像系統在Z軸的m個不同位置處分別獲得不同高度處對應的檢測樣品的測試圖像Cm,m為大于2的自然數,優選5≤m≤200。
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