[發(fā)明專(zhuān)利]粒子分析裝置及其制造方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410163407.6 | 申請(qǐng)日: | 2014-04-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104111219A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-10-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 宮村和宏;右近壽一郎 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 株式會(huì)社堀場(chǎng)制作所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N15/10 | 分類(lèi)號(hào): | G01N15/10;G01N15/14 |
| 代理公司: | 北京信慧永光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11290 | 代理人: | 陳桂香;褚海英 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 粒子 分析 裝置 及其 制造 方法 | ||
1.一種粒子分析裝置,其具有適于通過(guò)流式細(xì)胞術(shù)來(lái)分析樣品溶液中的粒子的構(gòu)造,所述裝置包括:
流動(dòng)池部,所述流動(dòng)池部具有流道,含有待分析粒子的所述樣品溶液在所述流道中流動(dòng);
光照射裝置,所述光照射裝置用于使照射光以光束的形式照射到所述流道中的光照點(diǎn);及
光接收裝置,所述光接收裝置用于檢測(cè)由所述光束照射至所述光照點(diǎn)而造成的光,
其中,
所述光照射裝置包括:
光源裝置,所述光源裝置用于發(fā)出所述照射光;及
光束形成膜,所述光束形成膜是由阻止所述照射光透過(guò)的不透明膜以及透光通孔組成的,所述透光通孔能夠?qū)⑺稣丈涔獾臋M截面形狀改變?yōu)樗龉馐臋M截面形狀,
且其中,
從所述光源裝置照射的光穿過(guò)所述光束形成膜中的所述透光孔,以形成將要照射在所述光照點(diǎn)上的所述光束。
2.如權(quán)利要求1所述的粒子分析裝置,其中,
所述流動(dòng)池部和所述流道是由覆蓋層和形成于第一表面上的凹槽構(gòu)成的,所述第一表面是用于形成所述流道的基板的一個(gè)主表面,且所述覆蓋層疊置在所述基板上以覆蓋所述凹槽并使所述凹槽設(shè)置為導(dǎo)管流道,
其中,所述覆蓋層是透明的,且所述光束形成膜堆疊在所述覆蓋層上;或者,所述覆蓋層就是所述光束形成膜,并且在此情況下,所述透光通孔中填充有透明材料。
3.如權(quán)利要求2所述的粒子分析裝置,還包括第二表面,所述第二表面是用于形成所述流道的基板的另一主表面并且與彎曲表面部是一體形成的,所述彎曲表面部起到用于使已經(jīng)通過(guò)所述光照點(diǎn)的光朝著所述光接收裝置聚集的透鏡的作用,所述彎曲表面部具有與所述第一表面中的所述流道中的所述光照點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的區(qū)域作為中心。
4.如權(quán)利要求1所述的粒子分析裝置,還具有能夠通過(guò)電阻法分析樣品溶液中的粒子的構(gòu)造,其中,
所述流道包括微小區(qū)域和用于進(jìn)行所述電阻法的電極,所述微小區(qū)域包含所述光照點(diǎn)并具有減小的橫截面積使得所述微小區(qū)域成為用于所述電阻法的開(kāi)孔,所述電極被設(shè)置在使所述開(kāi)孔位于所述電極之間的位置處,所述裝置使得能夠在一個(gè)所述微小區(qū)域中進(jìn)行所述流式細(xì)胞術(shù)和所述電阻法。
5.如權(quán)利要求4所述的粒子分析裝置,其中,所述流道在所述微小區(qū)域中或在所述微小區(qū)域的下游側(cè)的出口處分叉。
6.一種用于制造權(quán)利要求1所述的粒子分析裝置的方法,其包括以下步驟:
將不透明膜固定至具有流道的流動(dòng)池部,以覆蓋包括至少含有光照點(diǎn)的所述流道的區(qū)域,以及
處理所述不透明膜以在與所述光照點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的位置處形成透光孔,以此設(shè)置光束形成膜。
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