[發明專利]一種HIT太陽能電池及其制備方法有效
| 申請號: | 201410161505.6 | 申請日: | 2014-04-22 |
| 公開(公告)號: | CN103904151A | 公開(公告)日: | 2014-07-02 |
| 發明(設計)人: | 陳貴鋒;王弘;張輝;曹哲;張浩恩;張嬌;賈少鵬;羅鴻志 | 申請(專利權)人: | 河北工業大學 |
| 主分類號: | H01L31/0747 | 分類號: | H01L31/0747;H01L31/20 |
| 代理公司: | 天津翰林知識產權代理事務所(普通合伙) 12210 | 代理人: | 趙鳳英 |
| 地址: | 300401 天津市北辰*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 hit 太陽能電池 及其 制備 方法 | ||
1.一種HIT太陽能電池,其特征為該電池的組成包括P型多晶硅襯底(P?p-Si),在P型多晶硅襯底正面依次沉積的第一本征氫化非晶硅層(i?a-Si:H)、N型氫化非晶硅層(N?a-Si:H)和第一透明導電薄膜層,透明導電薄膜層上面為正面電極;在P型多晶硅襯底背面依次沉積的本征氫化非晶硅層(i?a-Si:H)、P型氫化非晶硅層(P?a-Si:H)和第二透明導電薄膜層,第二透明導電薄膜層下面為背面電極;
所述的正面電極為鋁柵電極;所述的背面電極為鋁柵電極。
2.如權利要求1所述的HIT太陽能電池,其特征為所述的P型多晶硅襯底(P?p-Si)的厚度為100~130um;第一本征氫化非晶硅層(i?a-Si:H)的厚度為5~20nm;N型氫化非晶硅層(N?a-Si:H)的厚度為50~150nm,第二本征氫化非晶硅層(i?a-Si:H)的厚度為5~20nm;P型氫化非晶硅層(P?a-Si:H)的厚度為5~20nm;第一、第二透明導電薄膜層的厚度為50~100nm,所述的鋁柵電極,膜厚15~20μm,柵線間距3mm、寬度0.10~0.12mm。
3.如權利要求1所述的HIT太陽能電池,其特征為所述的P型多晶硅襯底,其厚度為100~130um,電阻率為1~5Ω·cm,少子壽命1~100us。
4.如權利要求1所述的HIT太陽能電池的制備方法,其特征為該方法包括如下步驟:
1)清洗工藝
利用標準的RCA清洗工藝處理P型多晶硅襯底,去除P型多晶硅襯底表面的顆粒物、有機物以及金屬雜質;
2)鋁吸雜工藝
首先在經過清洗的P型多晶硅襯底任一面上蒸鍍厚度為1~2μm的鋁層,蒸鋁面即為硅片的正面;然后對硅片進行退火處理,在氬氣的氣氛中由室溫升高到700℃~800℃,保溫1-3小時,然后退火降溫到室溫,升溫速度與降溫速度均為5-15℃/min;再將P型多晶硅襯底用質量分數為10%的NaOH溶液浸泡處理10~30分鐘,腐蝕掉表面的鋁層以及合金層;
3)PECVD工藝
采用平板式PECVD方法在P型多晶硅襯底正面依次沉積厚度為5~20nm的本征氫化非晶硅層(i?a-Si:H)及厚度為50~150nm的N型氫化非晶硅層(N?a-Si:H),然后再在P型多晶硅襯底背面依次沉積厚度為5~20nm的本征氫化非晶硅層(i?a-Si:H)及厚度為5~20nm的P型氫化非晶硅層(P?a-Si:H),得到多層結構;
4)磁控濺射工藝
采用磁控濺射方法在步驟3)得到的多層結構的兩面分別沉積厚度為50~100nm的透明導電薄膜層;
5)絲網印刷工藝
采用絲網印刷技術在步驟4)得到的多層結構的兩面分別印刷鋁漿,膜厚在15~20μm,然后采用低溫燒結制成電極,燒結溫度為200℃~300℃,時間為2~4小時,形成鋁柵電極,從而最終得到HIT太陽能電池。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





