[發明專利]一種基于樣本庫字典基的電子元器件表面缺陷檢測方法

有效

• 申請號: 201410160167.4
• 申請日: 2014-04-21
• 公開（公告）號: CN103954627A
• 公開（公告）日: 2014-07-30
• 發明（設計）人: 楊宇翔;高明煜;何志偉;吳占雄;黃繼業;曾毓
• 申請（專利權）人: 杭州電子科技大學
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司 33200
• 代理人: 杜軍

技術領域

本發明屬于圖像處理領域，具體涉及一種基于樣本庫字典基的電子元器件表面缺陷檢測方法。

背景技術

目前電子元器件生產過程中的成品缺陷檢測主要由人工完成，費時費力，不僅工作量大，而且易受檢測人員主觀因素的影響，容易造成誤檢和漏檢，檢測效率低，勞動強度大。如果在檢測中操作不慎，還會對電子元器件造成二次損傷。

發明內容

本發明的目的是為了克服人工目測方法的不足，利用非接觸式數字圖像檢測技術來提高電子元器件缺陷檢測的效率。提出了一種基于樣本庫字典基的電子元器件表面缺陷檢測方法。具體步驟:

步驟(1)采集合格及存在缺陷的電子元器件圖像，構造電子元器件圖像樣本庫；

對需要進行表面缺陷檢測的電子元器件；選取200個合格的該元器件樣品，同時選取表面存在氣泡，破損，劃痕和引腳油漆下掛的該元器件樣品各100個；

(a)將樣本器件、照明系統、CCD相機全部置于封閉的暗箱中，采集上述合格及存在缺陷的電子元器件的表面圖像；

(b)對采集得到的圖像f按如下方式提取梯度圖像▽f作為各樣本器件的特征圖像：

▿f(i,j)=|f(i,j+1)-f(i,j-1)2|+|f(i+1,j)-f(i-1,j)2|]]>

(c)由經過上述預處理得到的各樣本器件的梯度特征圖像分別構造合格樣本庫，氣泡樣本庫，破損樣本庫，劃痕樣本庫和引腳油漆下掛樣本庫；

步驟(2)對樣本庫進行學習，構造各個樣本庫的字典基；

對于合格樣本庫，將合格樣本庫內的各圖像進行分塊處理，塊大小為7×7，選取塊內顏色方差大于閾值η₁的分塊為訓練分塊，閾值η₁選為10；記是各個訓練分塊的列向量化表示，記是該合格樣本庫的字典基，在字典Z下的表示可定義為：