[發明專利]一種鎮痛波形檢測裝置及其方法有效
| 申請號: | 201410160077.5 | 申請日: | 2014-04-21 |
| 公開(公告)號: | CN104014076A | 公開(公告)日: | 2014-09-03 |
| 發明(設計)人: | 齊建國;陳海鋒;黃焰文 | 申請(專利權)人: | 廣州三瑞醫療器械有限公司 |
| 主分類號: | A61N1/36 | 分類號: | A61N1/36 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 520620 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 鎮痛 波形 檢測 裝置 及其 方法 | ||
1.一種鎮痛波形檢測裝置,其特征在于:包括波形采集單元、輸出單元和波形仿真單元。所述波形采集單元、波形仿真單元分別與輸出單元相連。
所述波形采集單元用于從鎮痛裝置采集鎮痛波形;
所述波形仿真單元用于根據生成所述鎮痛波形的配置參數仿真計算出理想的波形。
所述輸出單元用于輸出所述波形采集單元采集到的鎮痛波形,還用于輸出所述波形仿真單元仿真計算出的波形。
2.根據權利要求1所述的鎮痛波形檢測裝置,其特征在于,還包括波形處理單元。所述波形采集單元還經所述波形處理單元與輸出單元相連。
所述波形處理單元用于從波形采集單元采集的實際鎮痛波形分析計算出波形配置參數;
所述輸出單元還用于輸出所述波形處理單元分析計算的波形配置參數和生成所述鎮痛波形的實際配置的波形參數。
3.一種基于權利要求1所述鎮痛波形檢測裝置的鎮痛波形檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟A1、采集鎮痛裝置輸出的波形;
步驟A2、根據生成步驟A1所述波形的波形配置參數,仿真計算出理想的波形;
步驟A3、輸出步驟A1采集的實際鎮痛波形和步驟A2仿真的理想波形。
4.基于權利要求3所述的鎮痛波形檢測方法,其特征在于,所述步驟A2中仿真計算出理想的波形,包括以下步驟:
步驟M1:仿真低頻調制波和載波;
步驟M2:利用步驟M1仿真的低頻調制波與載波做“與”運算,生成理想的輸出波形。
5.基于權利要求4所述的鎮痛波形檢測方法,其特征在于,所述步驟M1中仿真低頻調制波和載波,包括以下步驟:
m1、設置低頻調制波、載波的采樣率。
m2、根據步驟m1所述采樣率和各組合基礎波形的頻率,設置各組合基礎波形一個周期的點數及各點的數值,然后根據各組合基礎波形的個數及順序組合生成低頻調制波。
m3、根據步驟m1所述采樣率fs和載波的頻率,設置載波一個周期的點數及各點的數值,然后根據低頻調制波的時長計算載波的循環次數,生成載波。
6.一種基于權利要求2所述鎮痛波形檢測裝置的鎮痛波形檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟B1:采集鎮痛裝置輸出的波形;
步驟B2:從輸出波形分析計算出波形配置參數;
步驟B3、根據生成步驟B1所述波形的波形配置參數,仿真計算出理想的波形;
步驟B4、輸出步驟B1采集的實際鎮痛波形和步驟B3仿真的理想鎮痛波形;同時輸出步驟B2計算的波形配置參數和實際配置的波形參數。
7.基于權利要求6所述的鎮痛波形檢測方法,其特征在于,所述步驟B2中從輸出波形數據分析計算出波形參數值,包括以下步驟:
步驟X1:利用A/D轉換將采集的模擬鎮痛波形轉換成數字波形,記為鎮痛波形S;
步驟X2:對鎮痛波形S進行預處理;
步驟X3:計算載波和低頻調制波參數。
8.基于權利要求7所述的鎮痛波形檢測方法,其特征在于,所述步驟X2中對鎮痛波形S進行預處理,包括以下步驟:
步驟X21:獲取鎮痛波形S峰峰值±V,考慮實際波形輸出誤差,設置高低電平分界值為k*V,0<k<1;
步驟X22:基于波形S,大于+k*V的更新為1,小于或等于+k*V更新為0;
步驟X23:獲取波形S上升沿時間點,并依次計算相鄰上升沿的時間間隔,記為時間段數列Δt[1,2]、Δt[2,3]……Δt[n-1,n];Δt[n-1,n]表示第n-1個到第n個上升沿的時間間隔。
9.基于權利要求7所述的鎮痛波形檢測方法,其特征在于,所述步驟X3中計算載波和低頻調制波參數,包括以下步驟:
步驟X31:根據所述鎮痛裝置載波的最小頻率和低頻調制波的最大頻率,選取載波與低頻調制波的周期分界點,記為ΔT;
步驟X32:計算載波頻率。從時間段Δt[i-1,i](i=2……n)中選取小于ΔT的時間段,對其求平均數ΔTp,則載波頻率f=1/ΔTp;
步驟X33:計算低頻調制波的高電平時間。從步驟X32選取的小于ΔT的時間段中,累加相鄰的時間段后記為新的時間段。低頻調制波的高電平時間即為累加后的新時間段再加上一個載波的周期ΔTp;
步驟X34:計算低頻調制波的低電平時間。從Δt[i-1,i](i=2……n)中選取大于ΔT的時間段,低頻調制波的低電平時間即為該時間段再減去一個載波的周期ΔTp;
步驟X35:計算低頻調制波參數。根據步驟X33、X34計算的每個低頻調制波的高、低電平時間,計算每個基礎波形的頻率。計算出所有順序連接的基礎波形的頻率后,分別計算相鄰且同頻率的基礎波形的個數,推算出低頻調制波的每個組分基礎波形的頻率和個數。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于廣州三瑞醫療器械有限公司,未經廣州三瑞醫療器械有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410160077.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種廢水處理改性生物材料
- 下一篇:一種具有照明功能的紅外線測溫儀





