[發明專利]一種用于城市地區的顆粒物光學厚度遙感監測方法

無效

• 申請號: 201410158796.3
• 申請日: 2014-04-21
• 公開（公告）號: CN103954974A
• 公開（公告）日: 2014-07-30
• 發明（設計）人: 孫林
• 申請（專利權）人: 山東科技大學
• 主分類號: G01S17/95
• 分類號: G01S17/95
• 代理公司: 濟南舜源專利事務所有限公司 37205
• 代理人: 王連君

1.一種用于城市地區的顆粒物光學厚度遙感監測方法，其包括以下步驟:

A、MODIS數據的預處理，包括幾何糾正，云識別，清晰圖像的大氣糾正；

B、根據待反演圖像與步驟A中獲得的清晰圖像的幾何參數，耦合構建的城市地區BRDF模型，獲取待反演圖像的地表反射率；

C、計算待反演圖像的地表反射率結構函數值和表觀反射率的結構函數值；

D、根據待反演影像的幾何條件構建反演顆粒物光學厚度的查找表，通過待反演影像的地表反射率及表觀反射率的結構函數值查找其顆粒物光學厚度。

2.根據權利要求1所述的顆粒物光學厚度遙感監測方法，其特征在于，所述步驟A中還包括幾何糾正步驟：先利用MODIS數據中的經緯度數據作為控制點，同時，通過插值算法計算每個像元實際經緯度數據；然后針對每一個掃描帶的數據進行幾何糾正，最后將所有掃描帶的幾何糾正結果進行拼接完成幾何糾正。

3.根據權利要求1所述的顆粒物光學厚度遙感監測方法，其特征在于，所述步驟A中還包括清晰圖像大氣糾正步驟：由衛星傳感器獲取的輻射值L(μ_v)可由下式表示：

L(μv)=L0(μv)+ρt1-ρtSFdT(μv)---(1)]]>

式（1）中L(μ_v)是傳感器接收到的輻射亮度，ρ_t是表觀反射率，L₀(μ_v)是路徑輻射項，F_d=u_sF₀T(u_s)是太陽下行總輻射，F₀是大氣層頂的太陽輻照度；是傳感器和目標之間的透過率，是直射透過率，t′_d(θ_v)是散射透過率；在已知的觀測條件下，設定一組ρ_t值以及相應的傳感器，通過MODTRAN4或6S輻射傳輸模型模擬得到一組輻射亮度L(μ_v)，并得到清晰圖像大氣糾正的參數路徑輻射項、透過率、大氣半球反照率和太陽下行總輻射，將上述參數代入式(1)中進行清晰圖像大氣糾正。

4.根據權利要求1所述的顆粒物光學厚度遙感監測方法，其特征在于，所述步驟A中還包括云識別步驟：一次讀入系列圖像的MODIS數據的波段信息，然后逐點檢測，最后生成云標識文件。

5.根據權利要求1所述的顆粒物光學厚度遙感監測方法，其特征在于，所述步驟C中還包括針對城市地區這一復雜地表提出的結構函數計算方法：

M2(d)=1(dmax-dmin)2(n-dmin)(m-dmin)Σi=1n-dΣj=1m-dΣdj=dmindj=dmaxΣdi=dmindi=dmax[(ρi,j-ρi+di,j+dj)2]---(2)]]>

其中m*n即為計算窗口的大小，d_max、d_min是指參與計算的像元間距的最大、最小像元距離，ρ為反射率。