[發明專利]基于多尺度的光條中心提取方法及裝置

有效

• 申請號: 201410158714.5
• 申請日: 2014-04-18
• 公開（公告）號: CN105005981B
• 公開（公告）日: 2017-10-27
• 發明（設計）人: 劉震;李鳳嬌;李小菁
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G06T7/10
• 分類號: G06T7/10;G06T5/00
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理有限公司11270
• 代理人: 張穎玲,王黎延

1.一種基于多尺度的光條中心提取方法，所述方法包括：

對圖像進行噪聲平滑處理，獲取平滑圖像；

通過骨骼化方法對所述平滑圖像進行處理得到光條的初始中心點及對應每一所述初始中心點所對應的初始法線方向；

沿所述光條初始中心點的所述初始法線方向，對光條橫截面進行灰度高斯函數擬合，獲取光條每一位置處的光條寬度；

依據每一位置處的光條寬度及公式r＝w_i/2及確定每一位置處的第一卷積高斯核均方差σ₀及所述第一卷積高斯核的兩維寬度N₀*N₀，并根據所述σ₀及N₀*N₀確定第一高斯卷積核，其中，所述w_i為第i位置處的光條寬度，所述i的取值為正整數；

依據所述第一卷積高斯核，卷積求取每一所述初始中心點所在的l*l鄰域范圍RON內每個像素的第一Hessian矩陣；所述l為大于3的正整數；

依據所述第一Hessian矩陣求取光條中心像素級的候選點；

以每一所述候選點為基點，獲取光條中心點的亞像素坐標，其中，所述以每一所述候選點為基點，獲取光條中心點的亞像素坐標，包括：以候選點(x₀,y₀)為基點，對光條橫截面上的灰度分布函數進行二階泰勒展開，根據候選點(x₀,y₀)在法線方向(n_x,n_y)上的一階方向導數為零，得到光條圖像特征的亞像素坐標為(p_x,p_y)＝(x₀+tn_x,y₀+tn_y)，其中所述r_x為待提取光條中心圖像在x方向上與離散高斯函數卷積后得到的一階偏導數；所述r_y為待提取光條中心圖像在y方向上與離散高斯函數卷積后得到的一階偏導數；所述r_xx為待提取光條中心圖像在x方向上與離散高斯函數卷積后得到的二階偏導數；所述r_yy為待提取光條中心圖像在y方向上與離散高斯函數卷積后得到的二階偏導數；所述r_xy為所述待提取光條中心圖像在x方向上與離散高斯函數卷積后得到一階偏導數后再在y方向上的二階偏導數；

依據所述亞像素坐標連接各所述光條中心點形成光條中心。