[發(fā)明專利]通用測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410153404.4 | 申請日： | 2014-04-17 |
| 公開（公告）號： | CN105021848B | 公開（公告）日： | 2018-06-19 |
| 發(fā)明（設計）人： | 高合助;李冠興 | 申請（專利權）人： | 環(huán)旭電子股份有限公司;環(huán)鴻科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/04 | 分類號： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海音科專利商標代理有限公司 31267 | 代理人： | 張成新 |
| 地址： | 201203 上海市浦東新區(qū)張*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試槽 彈性定位件 承載盤 壓塊 待測物 加壓頭 通用測試裝置 測試過程 可移動地 施加壓力 外周緣 探針 壓抵 測試 通用 移動 | ||
1.一種通用測試裝置，用于測試待測物，所述通用測試裝置包含有：
承載盤，所述承載盤上凹設有測試槽，所述測試槽設有多個探針；
加壓頭，其以能夠移動的方式設置于所述承載盤的上方，能夠在加壓位置與離開位置之間移動以分別靠近或遠離所述測試槽，所述加壓頭的表面連接有壓塊，以對所述待測物施加壓力；
多個彈性定位件，其設置于所述承載盤，并且圍繞且貼近所述測試槽的外周緣，用于定位所述待測物，
所述承載盤設有底板，所述底板設有所述測試槽，
當所述壓塊在下壓時，所述待測物與所述彈性定位件會受到所述壓塊的壓抵而同時向下移動，直到所述壓塊靠抵于所述底板而停止。
2.如權利要求1所述的通用測試裝置，其特征在于，
所述承載盤還凹設有多個安裝孔，各所述彈性定位件分別容置于各所述安裝孔中。
3.如權利要求2所述的通用測試裝置，其特征在于，
各所述彈性定位件分別具有頭部和彈簧，各所述彈簧的兩端分別抵頂所述安裝孔的底部與所述頭部的底端，各所述彈性定位件的頭部在未施加壓力時至少有一部分凸出于所述安裝孔之外。
4.如權利要求1所述的通用測試裝置，其特征在于，
還包含連接件，所述加壓頭以其一端樞接所述連接件，并且所述連接件與所述承載盤連接。
5.如權利要求1所述的通用測試裝置，其特征在于，所述加壓頭以其一端樞接所述承載盤。
6.如權利要求1所述的通用測試裝置，其特征在于，各所述探針設置于所述測試槽的底面。
7.如權利要求1所述的通用測試裝置，其特征在于，
所述壓塊的用于對所述待測物施加壓力的表面的面積大于由各所述彈性定位件圍繞形成的面積。
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