[發(fā)明專利]半導體加工設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410146642.2 | 申請日: | 2014-04-11 |
| 公開(公告)號: | CN104979237B | 公開(公告)日: | 2018-03-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張鵬 | 申請(專利權(quán))人: | 北京北方華創(chuàng)微電子裝備有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京天昊聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11112 | 代理人: | 彭瑞欣,張?zhí)焓?/td> |
| 地址: | 100176 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導體 加工 設(shè)備 | ||
1.一種半導體加工設(shè)備,其包括反應(yīng)腔室和設(shè)置在所述反應(yīng)腔室底部的抽氣腔室,其中,在所述反應(yīng)腔室的底部設(shè)置有排氣口,且對應(yīng)地在所述抽氣腔室的頂部設(shè)置有進氣口,所述進氣口與所述排氣口連接;并且,在所述抽氣腔室的側(cè)壁上設(shè)置有出氣口,用以排出所述抽氣腔室內(nèi)的氣體,其特征在于,在所述抽氣腔室內(nèi),且位于所述出氣口的下方設(shè)置有錐狀環(huán),所述錐狀環(huán)的下端口小于上端口;
所述錐狀環(huán)用于將所述抽氣腔室分隔為上腔室和下腔室,所述上腔室和下腔室通過所述錐狀環(huán)的環(huán)孔相連通。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導體加工設(shè)備,其特征在于,所述抽氣腔室還包括顆粒儲存槽,所述顆粒儲存槽采用可拆卸的方式設(shè)置在所述下腔室的底部,用于儲存進入所述下腔室內(nèi)的副產(chǎn)物顆粒;并且
在所述顆粒儲存槽與所述下腔室之間設(shè)置有密封圈,用于對二者之間的間隙進行密封。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導體加工設(shè)備,其特征在于,在所述顆粒儲存槽的側(cè)壁內(nèi)設(shè)置有沿其周向環(huán)繞的環(huán)狀通道,通過向所述環(huán)狀通道內(nèi)通入冷卻水來冷卻所述顆粒儲存槽。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的半導體加工設(shè)備,其特征在于,在所述環(huán)狀通道上分別設(shè)置有進水口和出水口,并且
所述半導體加工設(shè)備還包括冷卻水源,所述冷卻水源用于經(jīng)由所述進水口向所述環(huán)狀通道內(nèi)通入冷卻水,并經(jīng)由所述出水口回收所述環(huán)狀通道內(nèi)的冷卻水。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導體加工設(shè)備,其特征在于,所述顆粒儲存槽采用螺栓連接的方式固定在所述下腔室的底部。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導體加工設(shè)備,其特征在于,在所述錐狀環(huán)的底部還設(shè)置有柱狀環(huán),所述柱狀環(huán)的環(huán)孔與所述錐狀環(huán)的環(huán)孔相連通,且所述柱狀環(huán)的端口尺寸與所述錐狀環(huán)的下端口尺寸相適配。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導體加工設(shè)備,其特征在于,所述抽氣腔室通過螺釘固定在所述反應(yīng)腔室的底部;并且,在所述抽氣腔室與所述反應(yīng)腔室之間設(shè)置有密封圈,用于對二者之間的間隙進行密封。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導體加工設(shè)備,其特征在于,所述反應(yīng)腔室的排氣口位于所述反應(yīng)腔室底部的中心位置處。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的半導體加工設(shè)備,其特征在于,在所述反應(yīng)腔室頂部的中心位置處設(shè)置有進氣口,用以向所述反應(yīng)腔室的內(nèi)部輸送工藝氣體。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導體加工設(shè)備,其特征在于,所述半導體加工設(shè)備還包括抽氣系統(tǒng),用于經(jīng)由所述出氣口抽取所述抽氣腔室內(nèi)的氣體。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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