[發(fā)明專利]一種測量發(fā)光二極管熱特性的方法及其裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410146466.2
• 申請日: 2014-04-11
• 公開（公告）號: CN103995223A
• 公開（公告）日: 2014-08-20
• 發(fā)明（設計）人: 錢可元;高亞楠
• 申請（專利權）人: 清華大學深圳研究生院
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 深圳新創(chuàng)友知識產(chǎn)權代理有限公司 44223
• 代理人: 江耀純

1.一種測量發(fā)光二極管熱特性的方法，包括定標階段和測量階段，其特征在于：

所述定標階段包括：將所述發(fā)光二極管多次分別置于不同的環(huán)境溫度下，每次分別使所述發(fā)光二極管通入電流脈沖，并測量所述發(fā)光二極管兩端的電壓，得到所述不同的溫度下所述發(fā)光二極管的電壓電流特性曲線；

所述測量階段包括：將所述發(fā)光二極管置于一恒定的環(huán)境溫度下，使所述發(fā)光二極管通入工作電流，在所述發(fā)光二極管的結(jié)溫上升過程中連續(xù)測量所述發(fā)光二極管兩端的電壓和通過的電流；根據(jù)所述定標階段的特性曲線以及所述測量階段測得的電壓值和電流值，求得所述發(fā)光二極管的溫升曲線。

2.如權利要求1所述的測量發(fā)光二極管熱特性的方法，其特征在于，所述定標階段還包括：根據(jù)所述不同的溫度下所述發(fā)光二極管的電壓電流特性曲線，轉(zhuǎn)化為所述發(fā)光二極管在不同電流下的電壓溫度特性曲線。

3.如權利要求1所述的測量發(fā)光二極管熱特性的方法，其特征在于，還包括數(shù)據(jù)處理階段，根據(jù)所述溫升曲線得到所述發(fā)光二極管的結(jié)構函數(shù)曲線，根據(jù)所述結(jié)構函數(shù)曲線確定所述發(fā)光二極管從芯片到基板的各層材料的熱阻和熱容。

4.如權利要求3所述的測量發(fā)光二極管熱特性的方法，其特征在于，所述溫升曲線是通過濾波、反卷積、網(wǎng)絡變換和微積分方法處理得到所述發(fā)光二極管的結(jié)構函數(shù)曲線。

5.如權利要求1所述的測量發(fā)光二極管熱特性的方法，其特征在于，所述電流脈沖的電流范圍為0至所述工作電流。

6.如權利要求1所述的測量發(fā)光二極管熱特性的方法，其特征在于，所述電流脈沖的占空比為10^-1～10^-6。

7.如權利要求1至6任一項所述的測量發(fā)光二極管熱特性的方法，其特征在于，所述電流脈沖的脈沖寬度為0.1～10μs。

8.一種測量發(fā)光二極管熱特性的裝置，用于權利要求1至7任一項所述的方法，其特征在于，包括脈沖恒流控制電路、數(shù)據(jù)采集器和控溫單元，其中：

所述脈沖恒流控制電路連接發(fā)光二極管，為所述發(fā)光二極管提供驅(qū)動電流，使所述發(fā)光二極管能通入電流脈沖或者工作電流；

所述控溫單元用于控制所述發(fā)光二極管所置于的環(huán)境溫度；

所述數(shù)據(jù)采集器連接所述脈沖恒流控制電路和所述發(fā)光二極管，用于采集所述發(fā)光二極管的電流及電壓值。

9.如權利要求8所述的測量發(fā)光二極管熱特性的裝置，其特征在于，所述控溫單元包括控溫器和恒溫器，其中所述控溫器連接所述恒溫器，并且控制所述恒溫器中的溫度；所述發(fā)光二極管置于所述恒溫器中。