[發(fā)明專利]一種多功能密封圈檢漏裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410145291.3
• 申請(qǐng)日: 2014-04-11
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103900768B
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-03-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳鑒;徐永進(jìn)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州紐威閥門股份有限公司
• 主分類號(hào): G01M3/04
• 分類號(hào): G01M3/04
• 代理公司: 北京三聚陽(yáng)光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11250
• 代理人: 鮑相如

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及密封圈檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種多功能密封圈檢漏裝置。

背景技術(shù)

目前在閥門行業(yè)，O形圈、泛塞圈等密封圈密封性能的檢測(cè)多是直接利用閥門來(lái)進(jìn)行檢測(cè)，而直接利用閥門來(lái)檢測(cè)會(huì)存在很多缺陷，如成本高，泄漏點(diǎn)多，檢測(cè)數(shù)據(jù)不夠精確，裝配過(guò)程不易控制等缺點(diǎn),因此需要一種能夠?qū)I(yè)檢測(cè)密封圈密封性能的檢測(cè)設(shè)備。

如中國(guó)專利文獻(xiàn)CN102435402A公開(kāi)了一種密封圈漏率檢測(cè)裝置，其包括法蘭盤(pán)和法蘭蓋密封聯(lián)接的法蘭，在法蘭盤(pán)和法蘭蓋之間設(shè)置的內(nèi)道密封槽和外道密封槽，內(nèi)道密封槽內(nèi)放置待檢測(cè)密封圈，外道密封槽內(nèi)放置標(biāo)準(zhǔn)密封圈，其中法蘭盤(pán)和法蘭蓋的接觸處設(shè)置有環(huán)形檢漏槽和氣體腔；環(huán)形檢漏槽設(shè)置在外道密封槽和內(nèi)道密封槽之間，并與外部的檢漏管無(wú)泄漏連通；氣體腔設(shè)置在法蘭的中心位置并與法蘭外部設(shè)置的筒體無(wú)泄漏連通。該檢測(cè)裝置的待檢測(cè)密封圈被設(shè)置在法蘭盤(pán)和法蘭蓋的端面配合處，也即內(nèi)道密封槽內(nèi)，當(dāng)在高溫下檢測(cè)密封圈的密封性能時(shí)，用于連接法蘭盤(pán)和法蘭蓋的螺栓會(huì)受熱膨脹，并沿著其軸向伸長(zhǎng)，這就導(dǎo)致法蘭盤(pán)和法蘭蓋之間的間隙增大，對(duì)待檢測(cè)密封圈的預(yù)壓力變小，進(jìn)而導(dǎo)致待檢測(cè)密封圈密封性能降低，漏率檢測(cè)結(jié)果誤差過(guò)大，不能真實(shí)反映出密封圈在高溫下的密封性能，且該檢測(cè)裝置每次只能檢測(cè)一個(gè)密封圈，檢測(cè)效率較低，功能單一。

發(fā)明內(nèi)容

為此，本發(fā)明首要解決的技術(shù)問(wèn)題是現(xiàn)有密封圈檢漏裝置在高溫下由于受熱膨脹致使待檢測(cè)密封圈的密封性能降低，進(jìn)而增大檢測(cè)誤差的問(wèn)題；本發(fā)明要解決的第二個(gè)技術(shù)問(wèn)題是現(xiàn)有檢測(cè)裝置的檢測(cè)效率較低，功能單一的問(wèn)題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：

一種多功能密封圈檢漏裝置，其包括相互密封配合的法蘭蓋和法蘭盤(pán)，所述法蘭盤(pán)與所述法蘭蓋的配合端面之間設(shè)有圓柱形的型腔，所述型腔內(nèi)設(shè)置有與所述型腔匹配的芯軸，所述芯軸與所述型腔的軸向配合面上設(shè)置有至少一個(gè)用于放置待檢測(cè)密封圈的第一密封槽；所述法蘭蓋上成型有與所述型腔連通的第一進(jìn)氣通道或第一漏氣檢測(cè)通道，所述法蘭盤(pán)上對(duì)應(yīng)成型有與所述型腔連通的第一漏氣檢測(cè)通道或第一進(jìn)氣通道。

所述芯軸的其中一側(cè)徑向面上成型有至少一個(gè)芯軸凸起或芯軸凹槽，與所述芯軸的其中一側(cè)所述徑向面配合的所述法蘭蓋或所述法蘭盤(pán)的徑向面上對(duì)應(yīng)成型有至少一個(gè)法蘭凹槽或法蘭凸起；所述芯軸凸起與所述法蘭凹槽，或所述芯軸凹槽與所述法蘭凸起的軸向配合面上設(shè)置有至少一個(gè)用于放置待檢測(cè)密封圈的第二密封槽；所述法蘭蓋或所述法蘭盤(pán)上分別成型有第二進(jìn)氣通道及第二漏氣檢測(cè)通道，其中所述第二進(jìn)氣通道及所述第二漏氣檢測(cè)通道分別連通所述第二密封槽的兩側(cè)。

所述型腔為成形于所述法蘭盤(pán)上的凹槽，所述芯軸與所述凹槽的內(nèi)壁配合處成型所述第一密封槽，所述芯軸的與所述法蘭盤(pán)的徑向配合面上成型所述芯軸凹槽，所述法蘭盤(pán)對(duì)應(yīng)成型所述法蘭凸起，所述芯軸凹槽與所述法蘭凸起的配合面上成型所述第二密封槽；所述第一進(jìn)氣通道成型于所述法蘭蓋上，且連通所述型腔，所述第二進(jìn)氣通道成形于所述法蘭盤(pán)上且連通所述芯軸凹槽與所述法蘭凸起的徑向配合面，所述第一漏氣檢測(cè)通道及所述第二漏氣檢測(cè)通道成形于所述法蘭盤(pán)上且連通所述芯軸與所述法蘭盤(pán)的徑向配合面。

所述第一漏氣檢測(cè)通道及所述第二漏氣檢測(cè)通道共用一個(gè)通道。

所述待檢測(cè)密封圈包括O型密封圈及泛塞圈；所述第一密封槽包括設(shè)置于所述芯軸中間位置處的O型密封圈槽，以及設(shè)置于所述芯軸靠近所述法蘭蓋的一端邊沿處的環(huán)形缺口，所述環(huán)形缺口用于放置第一待檢測(cè)泛塞圈；所述第二密封槽包括設(shè)置在所述法蘭凸起的中間位置處的O型密封圈槽，以及設(shè)置于所述法蘭凸起的邊沿處的環(huán)形缺口，所述環(huán)形缺口用于放置第二待檢測(cè)泛塞圈。

所述法蘭蓋的與所述法蘭盤(pán)配合的端面上設(shè)置有環(huán)形凸起，所述環(huán)形凸起的內(nèi)徑小于所述型腔的直徑，所述環(huán)形凸起的外徑大于所述型腔的直徑；所述法蘭蓋與所述法蘭盤(pán)通過(guò)套設(shè)于所述環(huán)形凸起上的密封墊片實(shí)現(xiàn)密封配合。

所述法蘭盤(pán)與所述環(huán)形凸起的配合處設(shè)置有第一臺(tái)階，所述第一臺(tái)階上設(shè)置有防塵密封圈。

所述芯軸上的所述環(huán)形缺口內(nèi)設(shè)置有擋圈，所述擋圈的一端抵在所述環(huán)形凸起上，其另一端抵在所述第一待檢測(cè)泛塞圈的開(kāi)口上。

所述法蘭盤(pán)的側(cè)壁上設(shè)有用于移動(dòng)或固定所述法蘭盤(pán)的吊環(huán)。

本發(fā)明的有益效果：