[發(fā)明專利]利用異步滑動式MTD提升相控陣?yán)走_(dá)的探測能力的方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410141737.5
• 申請日: 2014-04-10
• 公開（公告）號: CN103913730A
• 公開（公告）日: 2014-07-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳金國
• 申請（專利權(quán)）人: 四川九洲電器集團(tuán)有限責(zé)任公司
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 51214
• 代理人: 辜強(qiáng)

1.一種利用異步滑動式MTD提升相控陣?yán)走_(dá)的探測能力的方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：

（1）發(fā)射分系統(tǒng)采用不分幀的相同PRF對外輻射信號；

（2）根據(jù)波束最大駐留時(shí)間確定MTD數(shù)據(jù)周期t2；

（3）劃分MTD處理周期t1；

（4）將MTD數(shù)據(jù)更新周期設(shè)置為與t1一致，采用FIFO的方式完成數(shù)據(jù)更新。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種利用異步滑動式MTD提升相控陣?yán)走_(dá)的探測能力的方法，其特征在于，處理周期t1是根據(jù)具體雷達(dá)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)指標(biāo)，結(jié)合具體雷達(dá)信號處理器的處理能力所確定。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種利用異步滑動式MTD提升相控陣?yán)走_(dá)的探測能力的方法，其特征在于，須選擇一定處理效率的處理硬件平臺保證t1遠(yuǎn)小于t2。