[發明專利]具有多個接收器支路的雷達物位計系統

在審

• 申請號: 201410139653.8
• 申請日: 2014-04-09
• 公開（公告）號: CN104833403A
• 公開（公告）日: 2015-08-12
• 發明（設計）人: 克里斯特·約舒亞·弗勒維克
• 申請（專利權）人: 羅斯蒙特儲罐雷達股份公司
• 主分類號: G01F23/284
• 分類號: G01F23/284
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 陳煒;李德山

1.一種用于確定容器中的物品的填充物位的雷達物位計系統，包括：

信號傳播裝置，其被設置成朝向所述物品的表面傳播電磁發射信號，并且返回由所述電磁發射信號在所述發射信號遇到的阻抗不連續處的反射所產生的電磁反射信號；

發射器電路，其耦接至所述信號傳播裝置并且被配置成在測量周期期間生成并發射所述發射信號;

接收器電路，其耦接至所述信號傳播裝置并且被配置成在所述測量周期期間接收所述反射信號，所述接收器電路包括：

第一接收器支路，其被配置成將所述反射信號變換成表示所述發射信號與在所述測量周期期間所接收的所述反射信號之間的相位關系的數字第一測量信號，所述第一測量信號是根據與所述反射信號相關的第一增益函數經過幅度調制的；以及

第二接收器支路，其被配置成將所述反射信號變換成表示所述發射信號與在所述測量周期期間所接收的所述反射信號之間的相位關系的數字第二測量信號，所述第二測量信號是根據與所述反射信號相關的、與所述第一增益函數不同的第二增益函數經過幅度調制的；以及

處理電路，其耦接至所述第一接收器支路和所述第二接收器支路，并且被配置成基于所述第一測量信號和所述第二測量信號來確定所述填充物位。

2.根據權利要求1所述的雷達物位計系統，其中，所述第二接收器支路至少部分地與所述第一接收器支路并聯，從而在所述信號傳播裝置與所述處理電路之間提供不同的信號路徑。

3.根據權利要求1或2所述的雷達物位計系統，其中，所述第一接收器支路和所述第二接收器支路中的至少之一包括放大器電路。

4.根據權利要求1或2所述的雷達物位計系統，其中，所述第一接收器支路和所述第二接收器支路中的至少之一包括頻率濾波器。

5.根據權利要求1或2所述的雷達物位計系統，其中：

所述第一接收器支路包括第一模數變換器電路；以及

所述第二接收器支路包括與所述第一模數變換器電路不同的第二模數變換器電路。

6.根據權利要求1或2所述的雷達物位計系統，其中：

所述雷達物位計系統還包括參考阻抗過渡；以及

所述處理電路被配置成：

基于所述第一測量信號確定距所述參考阻抗過渡的第一距離；

基于所述第二測量信號確定距所述物品的所述表面的第二距離；以及

基于所述第一距離和所述第二距離來確定所述填充物位。

7.根據權利要求1或2所述的雷達物位計系統，其中：

所述處理電路包括混合信號形成電路，所述混合信號形成電路被配置成形成包含所述第一測量信號的至少一部分和所述第二測量信號的至少一部分的混合測量信號；以及

所述處理電路被配置成基于所述混合測量信號來確定所述填充物位。

8.根據權利要求1或2所述的雷達物位計系統，其中：

所述處理電路包括選擇電路，所述選擇電路被配置成基于信號基準來選擇所述第一測量信號與所述第二測量信號之一；以及

所述處理電路被配置成基于所述第一測量信號和所述第二測量信號中所選擇的一個測量信號來確定所述填充物位。

9.根據權利要求1或2所述的雷達物位計系統，其中：

所述處理電路包括診斷電路，所述診斷電路被配置成基于所述第一測量信號與所述第二測量信號之間的比較來確定診斷值；以及

所述處理電路還被配置成提供表示所述診斷值的信號。

10.根據權利要求1或2所述的雷達物位計系統，其中，所述處理電路包括：

比較電路，其被配置成比較所述第一測量信號與所述第二測量信號；以及

校準電路，其被配置成基于所述比較來校準所述第一測量支路與所述第二測量支路中的至少之一。

11.根據權利要求1或2所述的雷達物位計系統，還包括：

耦接至所述接收器電路的參考信號提供電路，所述參考信號提供電路被配置成提供表示所述發射信號的相位的電磁參考信號。