[發明專利]一種近紅外量子剪切絕對光致發光量子效率定量測量方法

無效

• 申請號: 201410138237.6
• 申請日: 2014-04-08
• 公開（公告）號: CN103868903A
• 公開（公告）日: 2014-06-18
• 發明（設計）人: 秦峰;張云剛;段倩倩;趙華;鄭仰東;張治國
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 岳泉清

1.一種近紅外量子剪切絕對光致發光量子效率定量測量方法，該方法是基于積分球探測系統實現的，該積分球探測系統包括積分球（2）、濾波片（3）、光譜儀（4）、探測器（5）、數據采集卡（6）和計算機（7），所述的積分球（2）的入光口用于接收激發光源（1）發出的激光，激光在積分球（2）內漫反射后，由積分球（2）的出光口射出后，經濾波片（3）濾波后，又經光譜儀（4）出射至探測器（5）的光信號輸入端，探測器（5）的電信號輸出端與數據采集卡（6）的數據信號輸入端連接，數據采集卡（6）的數據信號輸出端與計算機（7）的數據信號輸入端連接；

其特征在于，所述的一種近紅外量子剪切絕對光致發光量子效率定量測量方法的具體過程為，

第一步，將標準燈置于積分球探測系統的積分球（2）內，測量標準燈的發光光譜，獲得積分球探測系統響應函數，然后取出標準燈；

第二步，將激發光源（1）發出的激光，照射在空積分球（2）內，獲得積分球（2）出射激光的光譜；

第三步，將樣品置于積分球（2）內，使激發光源（1）發出的激光照射入積分球（2）內、且不直接照射在樣品上，獲得積分球（2）出射激光及樣品熒光的光譜；

第四步，將樣品置于積分球（2）中心，使激發光源（1）發出的激光照射入積分球（2）內、且直接照射在樣品上，獲得積分球（2）出射激光及樣品熒光的光譜；

第五步，根據積分球探測系統響應函數對第二步至第四步中所獲得的積分球（2）出射激光及樣品熒光的光譜進行校準，將校準過的光譜轉換為光子數分布光譜

其中，P_(λ)為絕對光譜，且絕對光譜為測量光譜與系統響應函數的比值，為波數，λ表示波長，h表示普朗克常量，c表示光速，

第六步，在第二步、第三步和第四步所述的情況下，分別對光子數分布光譜進行積分，獲得激光的光子數La、Lb、Lc和熒光的光子數Pb、Pc；

其中，La表示第二步中積分球（2）出射激光的光子數；

Lb表示第三步中積分球（2）出射激光的光子數；

Pb表示第三步中積分球（2）出射樣品熒光的光子數；

Lc表示第四步中積分球（2）出射激光的光子數；

Pc表示第四步中積分球（2）出射樣品熒光的光子數；

第七步，將La、Lb、Lc、Pb、Pc代入到公式中，獲得絕對量子效率η，其中，A表示吸收率。

2.根據權利要求1所述的一種近紅外量子剪切絕對光致發光量子效率定量測量方法，其特征在于，所述的積分球（2）內壁反射率高于99%。

3.根據權利要求1或2所述的一種近紅外量子剪切絕對光致發光量子效率定量測量方法，其特征在于，所述的光譜儀（4）分辨率為1nm、掃描范圍為200-1500nm。

4.根據權利要求1所述的一種近紅外量子剪切絕對光致發光量子效率定量測量方法，其特征在于，所述的激發光源（1）為473nm連續激光器。

5.根據權利要求1所述的一種近紅外量子剪切絕對光致發光量子效率定量測量方法，其特征在于，所述的探測器（5）為光電倍增管時，濾波片（3）為500nm的短波截止濾波片。

6.根據權利要求1所述的一種近紅外量子剪切絕對光致發光量子效率定量測量方法，，其特征在于，所述的探測器（5）為InGaAs時，濾波片（3）為800nm的短波截止濾波片。