[發(fā)明專利]用于熒光測量的具有可互換光學(xué)盒的掃描系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410138075.6 | 申請日: | 2014-04-08 |
| 公開(公告)號: | CN104142317B | 公開(公告)日: | 2019-06-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | Y.C.蔡;T.H.李;I.L.鐘;W.-Y.李 | 申請(專利權(quán))人: | 安捷倫科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64 |
| 代理公司: | 北京坤瑞律師事務(wù)所 11494 | 代理人: | 封新琴 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 美國;US |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 熒光 測量 具有 互換 光學(xué) 掃描 系統(tǒng) | ||
1.一種用于對多孔孔板執(zhí)行熒光測量的熒光測量系統(tǒng),所述多孔孔板具有以矩形陣列布置的孔,所述矩形陣列具有第一軸和與所述第一軸垂直的第二軸,所述系統(tǒng)包括:
主機裝置,包括:
安置所述孔板的孔板容座;以及
包括光學(xué)盒容座的臺,所述光學(xué)盒容座在與由所述孔板容座容納的孔板的第一軸平行的第一方向上伸長,所述光學(xué)盒容座在其表面上包括電連接器,其中所述臺和所述孔板容座中的至少一個相對于所述臺和所述孔板容座中的另一個在與所述孔板和所述孔板的第二軸平行的第二方向上是可移動的,用于指定一組孔;
自包含的、多通道光學(xué)盒,其被配置為與所述光學(xué)盒容座接合并在指定組的孔上執(zhí)行同時熒光測量,所述光學(xué)盒包括:
光學(xué)組件沿所述第一方向的線性陣列,所述光學(xué)組件中的每一個包括生成用于向所述孔板的相應(yīng)孔輸出的激發(fā)光的相應(yīng)激發(fā)光源,以及響應(yīng)于從所述孔板的相應(yīng)孔接收到的發(fā)射光生成發(fā)射光強度信號的相應(yīng)發(fā)射光檢測器,
存儲器,其存儲所述光學(xué)組件中的每一個的相應(yīng)校準信息,以及
電連接器,其電耦接到所述存儲器和所述光學(xué)組件中的每一個,并且被配置為連接到所述光學(xué)盒容座的電連接器;
其中所述主機裝置還包括使用從用于所述光學(xué)組件的光學(xué)盒接收到的相應(yīng)校準信息來校正從所述光學(xué)盒的每一個光學(xué)組件接收到的發(fā)射光強度信號的處理器,
其中“自包含”的含義在于當光學(xué)盒安裝在主機裝置的光學(xué)盒容器中的任何一個時,光學(xué)盒的電光性能獨立于主機裝置,自包含的光學(xué)盒可獨立于與光學(xué)盒一起使用的任何主機裝置而校準。
2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中:
所述光學(xué)盒容座是第一光學(xué)盒容座;
所述臺還包括在所述第二方向上從所述第一光學(xué)盒容座偏移的第二光學(xué)盒容座;以及
所述光學(xué)盒被配置為與所述光學(xué)盒容座中的任何一個接合。
3.如權(quán)利要求2所述的系統(tǒng),其中:
所述光學(xué)盒是第一光學(xué)盒;
所述系統(tǒng)還包括第二光學(xué)盒;以及
所述第一光學(xué)盒和所述第二光學(xué)盒各自被配置為與所述光學(xué)盒容座中的任何一個接合。
4.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中所述臺相對于所述孔板容座在所述第二方向上移動。
5.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中所述光學(xué)組件中的每一個還包括:
分束器;
在所述激發(fā)光源和所述分束器之間的準直透鏡和激發(fā)光帶通濾波器;以及
在所述發(fā)射光檢測器和所述分束器之間的聚焦透鏡和發(fā)射光帶通濾波器。
6.如權(quán)利要求5所述的系統(tǒng),其中所述分束器透射所述發(fā)射光并且反射所述激發(fā)光。
7.如權(quán)利要求5所述的系統(tǒng),其中所述分束器反射所述發(fā)射光并且透射所述激發(fā)光。
8.如權(quán)利要求5所述的系統(tǒng),其中所述分束器是分色分束器。
9.如權(quán)利要求5所述的系統(tǒng),其中所述激發(fā)光帶通濾波器和所述發(fā)射光帶通濾波器具有相應(yīng)的通帶,所述通帶具有彼此不同的相應(yīng)中心波長。
10.如權(quán)利要求5所述的系統(tǒng),其中:
所述光學(xué)盒是第一光學(xué)盒;以及
所述系統(tǒng)還包括第二自包含的、多通道光學(xué)盒,其被配置為與所述光學(xué)盒容座中的任何一個接合,并且包括光學(xué)組件的線性陣列,所述第二光學(xué)盒的光學(xué)組件與所述第一光學(xué)盒的光學(xué)組件的不同之處在于所述第二光學(xué)盒的激發(fā)光帶通濾波器和發(fā)射光帶通濾波器中的至少一個與所述第一光學(xué)盒的激發(fā)光帶通濾波器和發(fā)射光帶通濾波器中的對應(yīng)一個的中心波長不同。
11.如權(quán)利要求10所述的系統(tǒng),其中所述第一光學(xué)盒和所述第二光學(xué)盒與所述臺中的相應(yīng)光學(xué)盒容座接合。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





