[發明專利]制造包括具有表面層的吸收層的光伏器件的方法有效
| 申請號: | 201410136799.7 | 申請日: | 2014-04-04 |
| 公開(公告)號: | CN104810429B | 公開(公告)日: | 2019-09-27 |
| 發明(設計)人: | 黃乾燿 | 申請(專利權)人: | 臺灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/032 |
| 代理公司: | 北京德恒律治知識產權代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;孫征 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 制造 包括 具有 表面 吸收 器件 方法 | ||
1.一種形成光伏器件的方法,包括:
在襯底之上形成吸收層,所述吸收層包括I-III-VI2化合物,該I-III-VI2化合物包含I族元素、III族元素和VI族元素,其中,形成所述吸收層的步驟包括:
在所述襯底之上形成金屬前體層;
在300℃到550℃的范圍內的溫度下,在所述金屬前體層上沉積含硫前體;
在沉積所述含硫前體的步驟之后,在25℃到350℃的范圍內的溫度下沉積含硒前體;
在400℃到600℃的范圍內的溫度下沉積含硒前體;和
在500℃到800℃的范圍內的溫度下,使所述光伏器件退火;以及在所述吸收層上形成表面層,所述表面層包括I-III-VI2化合物,該I-III-VI2化合物包含I族元素、III族元素和VI族元素且I族元素與III族元素的原子比在0.7到0.9的范圍內;
其中,所述吸收層的I-III-VI2化合物中的III族元素包括銦,所述銦摻雜有堿金屬元素,其中,所述吸收層的底面上沒有硫,所述吸收層的上表面上的硫與硒和硫的總量的原子比在0.1到1.0的范圍內,所述表面層的I-III-VI2化合物中的III族元素選自由Al和Tl所組成的組。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,所述吸收層的I-III-VI2化合物或者所述表面層的I-III-VI2化合物中的I族元素選自由Cu和Ag所組成的組。
3.根據權利要求1所述的方法,其中,所述吸收層的I-III-VI2化合物或者所述表面層的I-III-VI2化合物中的VI族元素選自由S和Se所組成的組。
4.根據權利要求1所述的方法,其中,在所述吸收層上形成所述表面層的步驟包括:
在200℃到520℃的范圍內的溫度下沉積含硒前體;以及
在200℃到520℃的范圍內的溫度下,在所述含硒前體上沉積含硫前體。
5.根據權利要求4所述的方法,其中,在所述吸收層上形成所述表面層的步驟還包括:
在200℃到520℃的范圍內的溫度下沉積所述含硒前體之前或沉積所述含硒前體時,在所述吸收層之上沉積包括III族元素的金屬前體。
6.根據權利要求1所述的方法,還包括:
在所述襯底之上形成背接觸層;
其中,形成所述表面層的步驟包括:
在25℃到520℃的范圍內的溫度下沉積含硒前體;以及
在200℃到520℃的范圍內的溫度下沉積含硫前體。
7.根據權利要求6所述的方法,其中,在所述吸收層上形成所述表面層的步驟還包括:
在200℃到520℃的范圍內的溫度下沉積所述含硒前體之前或沉積所述含硒前體時,在所述吸收層之上沉積包括III族元素的金屬前體。
8.根據權利要求6所述的方法,其中,在所述吸收層上形成所述表面層的步驟中,在溫度低于沉積所述含硫前體的溫度的情況下沉積所述含硒前體。
9.根據權利要求6所述的方法,其中,在所述吸收層上形成所述表面層的步驟中,在300℃到400℃的范圍內的溫度下沉積所述含硒前體,且在400℃到500℃的范圍內的溫度下沉積所述含硫前體。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





