[發(fā)明專利]基于改變溫度及劑量率的低劑量率增強(qiáng)效應(yīng)加速實(shí)驗(yàn)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410136016.5
• 申請(qǐng)日: 2014-04-04
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103884945A
• 公開(kāi)（公告）日: 2014-06-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李興冀;楊劍群;劉超銘;肖景東;馬國(guó)亮;何世禹;楊德莊
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 哈爾濱工業(yè)大學(xué)
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 23109
• 代理人: 張宏威

1.基于改變溫度及劑量率的低劑量率增強(qiáng)效應(yīng)加速實(shí)驗(yàn)方法，其特征在于：該方法的具體步驟為：

步驟一：首先選用待實(shí)驗(yàn)的雙極型器件采用低劑量率進(jìn)行輻照，低劑量率為0.001rad/s-0.1rad/s，輻照溫度為-200℃～+50℃，當(dāng)?shù)蛣┝柯瘦椪盏膭┝坷塾?jì)到低劑量率輻照總劑量的1/10至1/5時(shí)停止輻照，并記錄該器件的性能變化曲線；

步驟二：另選擇待實(shí)驗(yàn)的同一類型的雙極型器件，先采用高劑量率輻照，所述高劑量率為1rad/s～1000rad/s，輻照溫度為0℃～100℃之間；當(dāng)高劑量輻照所產(chǎn)生的性能變化達(dá)到步驟一所述的性能變化的50%-80%，轉(zhuǎn)換到低劑量率對(duì)雙極型器件繼續(xù)進(jìn)行輻照；劑量率、輻照劑量和輻照溫度與步驟一所述相同；

步驟三：重復(fù)步驟二多次，直至器件在低劑量率輻照條件下的劑量累積到試驗(yàn)所要求的低劑量率輻照總劑量；高劑量率輻照轉(zhuǎn)換為低劑量率輻照的轉(zhuǎn)換節(jié)點(diǎn)為器件性能變化達(dá)到上一次低劑量率輻照的性能變化的50%～80%；每次低劑量率輻照劑量大于或等于1×10⁴rad，低劑量率的輻照總劑量為1×10⁵rad～1×10⁶rad；每次高劑量率輻照劑量大于或等于1×10⁵rad，高劑量率的輻照總劑量為1×10⁶rad～1×10⁷rad；試驗(yàn)完畢后，記錄輻照過(guò)程中器件敏感性能參數(shù)的變化，確定雙極型器件輻照損傷退化程度。

2.基于改變溫度及劑量率的低劑量率增強(qiáng)效應(yīng)加速實(shí)驗(yàn)方法，其特征在于：該方法的具體步驟為：

步驟一：首先采用低劑量率對(duì)雙極型器件進(jìn)行輻照，所述低劑量率為0.001rad/s～0.1rad/s，輻照溫度為室溫；

步驟二：當(dāng)?shù)蛣┝柯瘦椪盏膭┝看笥诨虻扔?×10⁴rad后，轉(zhuǎn)換到高劑量率對(duì)雙極型器件繼續(xù)進(jìn)行輻照，所述高劑量率為1rad/s～1000rad/s，在高劑量率輻照時(shí)，溫度低于-100度，當(dāng)高劑量率到達(dá)總劑量1/10到1/5時(shí)，將器件溫度升高至100度并保持5分鐘～10分鐘；再轉(zhuǎn)換到低劑量率對(duì)雙極型器件繼續(xù)進(jìn)行輻照，輻照的溫度為室溫；

步驟三：重復(fù)步驟一和步驟二多次，直至器件的性能變化量達(dá)到原始性能的80%以上，低劑量率輻照時(shí)劑量大于或等于1×10⁴rad，輻照總劑量為1×10⁵rad～1×10⁶rad，記錄輻照過(guò)程中雙極型器件敏感性能參數(shù)的變化，確定雙極型器件輻照損傷退化程度，重構(gòu)低劑量率敏感性能參數(shù)的曲線。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的基于改變溫度及劑量率的低劑量率增強(qiáng)效應(yīng)加速實(shí)驗(yàn)方法，其特征在于：輻照源選擇⁶⁰Coγ射線。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的基于改變溫度及劑量率的加速實(shí)驗(yàn)ELDRS效應(yīng)的方法，其特征在于：敏感性能參數(shù)包括雙極型分立器件的電流增益、漏電流參數(shù)和雙極型電路的輸入失調(diào)電壓Vio、輸入偏置電流Ibs、共模抑制比CMRR、開(kāi)環(huán)電壓增益AvoL。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的基于改變溫度及劑量率的低劑量率增強(qiáng)效應(yīng)加速實(shí)驗(yàn)方法，其特征在于：所選雙極型電路的型號(hào)為L(zhǎng)M741。