[發明專利]氣密地密封的檢孔儀探測器頂端

無效

• 申請號: 201410135075.0
• 申請日: 2014-04-04
• 公開（公告）號: CN104102005A
• 公開（公告）日: 2014-10-15
• 發明（設計）人: M.K.比諾;E.C.希菲爾
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: G02B27/00
• 分類號: G02B27/00;G01V8/10
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 肖日松;嚴志軍

技術領域

本發明大體上涉及檢孔儀組件，且更具體而言，涉及將光學元件密封在檢孔儀組件內。

背景技術

檢孔儀為已知的且用于許多不同的應用中。例如，檢孔儀用于通過獲取區域的圖像來檢查該區域。檢孔儀一般包括用于容納與圖像的獲取相關聯的光學元件(例如，透鏡、光纖束等)的檢孔儀探測器頂端。過去，聚環氧化物材料(例如，環氧樹脂)用于密封光學元件且限制冷凝物、濕氣等進入檢孔儀探測器頂端的內部的通路。

然而，檢孔儀探測器頂端用于具有相對較高的溫度波動的區域中。此外，取決于具體區域，檢孔儀探測器頂端暴露于相對腐蝕性的化學制品。該溫度波動和/或化學制品暴露不利于密封且腐蝕密封，因此允許冷凝物、濕氣等進入檢孔儀探測器頂端。

因此，將光學元件密封在經得起溫度波動和化學侵蝕的檢孔儀探測器頂端內將為有利的。

發明內容

下文呈現了本發明的簡化的概述，以便提供本發明的一些示例性方面的基本理解。該概述不是本發明的廣泛綜述。此外，該概述不旨在識別本發明的關鍵要素，也不旨在界定本發明的范圍。概述的唯一目的在于作為稍后呈現的更詳細的描述的前序來以簡化的形式呈現本發明的一些理念。

根據一個方面，提供了一種用于檢查區域的光學系統。該光學系統包括構造成容納一個或多個光學纖維的光學殼體。容納在光學殼體內的光學元件使光集中在一個或多個光學纖維上。密封部件相對于光學殼體而密封光學元件。密封部件包括固化的玻璃熔塊材料。

根據另一個方面，提供了一種用于檢查區域的光學系統。該光學系統包括構造成容納一個或多個光學纖維的光學殼體。容納在光學殼體內的光學元件使光集中在一個或多個光學纖維上。密封部件環形地設置在光學殼體與光學元件之間。密封部件包括與光學殼體和光學元件形成密封的固化的玻璃熔塊材料。

根據另一個方面，提供了一種形成光學系統的方法。該方法包括提供光學殼體和提供光學元件的步驟。該方法還包括使密封部件附著在光學殼體和光學元件中的至少一者上的步驟，密封部件包括玻璃熔塊材料。該方法包括加熱密封部件以將光學元件氣密地密封到光學殼體上的步驟。

一種用于檢查區域的光學系統，光學系統包括：

光學殼體，光學殼體構造成容納一個或多個光學纖維；

光學元件，光學元件容納在光學殼體內，用于使光集中到一個或多個光學纖維上；以及

密封部件，密封部件構造成相對于光學殼體而密封光學元件，密封部件包括固化的玻璃熔塊材料。

優選地，光學殼體包括檢孔儀探測器頂端。

優選地，光學元件包括用于密封到檢孔儀探測器頂端的透鏡。

優選地，光學殼體被包括作為檢孔儀組件的一部分。

優選地，密封部件還包括用于粘合到玻璃熔塊材料上的粘合劑材料。

優選地，密封部件設置在光學殼體與光學元件之間，密封部件分別與光學殼體和光學元件接觸。

優選地，密封部件環形地設置在光學殼體與光學元件之間。

優選地，密封部件構造成由熱源加熱，以相對于光學殼體而密封光學元件。

優選地，密封部件包括粘合劑材料。

一種用于檢查區域的光學系統，光學系統包括：

光學殼體，光學殼體構造成容納一個或多個光學纖維；

光學元件，光學元件容納在光學殼體內，用于使光集中到一個或多個光學纖維上；以及

密封部件，密封部件環形地設置在光學殼體與光學元件之間，密封部件包括固化的玻璃熔塊材料，其構造成與光學殼體和光學元件形成密封。

優選地，光學殼體包括檢孔儀探測器頂端。

優選地，光學元件包括用于密封到檢孔儀探測器頂端的透鏡。

優選地，光學殼體被包括作為檢孔儀組件的一部分。

優選地，密封部件還包括用于粘合到玻璃熔塊材料上的粘合劑材料。

優選地，密封部件構造成由熱源加熱，以相對于光學殼體而密封光學元件。

優選地，密封部件包括粘合劑材料。

一種形成光學系統的方法，方法包括以下步驟：

提供光學殼體；

提供光學元件；

使密封部件附著在光學殼體和光學元件中的至少一者上，密封部件包括玻璃熔塊材料；以及

加熱密封部件以將光學元件氣密地密封到光學殼體上。

優選地，加熱密封部件的步驟包括使用熱源來加熱密封部件。

優選地，光學殼體被提供作為檢孔儀組件的一部分。