[發明專利]一種巖礦石標本真電參數測試方法及裝置

有效

• 申請號: 201410133117.7
• 申請日: 2014-04-03
• 公開（公告）號: CN103913634A
• 公開（公告）日: 2014-07-09
• 發明（設計）人: 王慶乙;王生;邱鋼;代麗;張楠
• 申請（專利權）人: 中色地科礦產勘查股份有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02;G01R29/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 賈磊

技術領域

本發明涉及巖礦石測量技術領域，具體的講是一種巖礦石標本真電參數測試方法及裝置。

背景技術

測試巖礦石標本的電參數。了解礦體與圍巖電性的差異，是決定電（磁）法能否有效找礦的物性前提。也是正演計算與反演解釋的客觀依據。對地球物理找礦來說，具有基礎性的重要意義。

現有國內外巖礦石標本電參數測試系統種類繁多，國內“激電規范”推薦有蠟封法、物性架、面團法等，國外有俄（BИTP）、美（Zonge）、加（GDD）等國的產品。

巖礦石標本電參數的測試，一般都是仿效野外找礦測試裝置與方法。測試系統由測試標本架、小功率發送機與接收機（或借用找礦接收機）等組成。加拿大GDD公司SCIP測試系統采用了二極裝置（已有文獻指出其測試原理有誤）。

測試巖礦石標本的電參數，應該是標本的真電參數，但現有的國內外巖礦石標本電參數測試系統，所測的電參數不是真電參數，而是一種錯誤很大的視電參數。

造成錯誤原因是，標本的測試條件與技術要求，都缺乏原位的規范化，以及測試系統存在本底電參數的干擾。主要有：

①為了提高測試精度，通常在測試中加大電流密度，該電流密度大大超過電(磁)法勘查時巖礦石經受的電流密度，對于良導礦石受電流非線性干擾，使所測標本電參數不是原位電參數。

②在標本電參數測試中，供電源都采用電壓源，導致所測電參數受電流電極的極化干擾。所測參數不是標本真實的參數。

③測試標本的所用接收機，不同時具備高精度與高輸入阻抗的技術要求，導致低阻標本電位測試精度不夠，高阻標本分流MN回路導致不極化電極產生極化，所測電參數受到雙重干擾。

④測試中未能消除測試系統存在的本底電參數干擾，導致所測良導礦石的電參數，與其真值有數量級的差別。不少找礦資料中還把所測錯誤參數當作真電參數在應用。

造成電參數測試錯誤的原因，主要是對電參數的測試條件與技術要求認識不足。缺乏對測試巖礦標本真電參數的研究。另一個重要原因是“激電法技術規定”中對測試精度要求以重復相對誤差來衡量。相對誤差反映的是測試中的偶然誤差，而精度是指測試值與真值接近的程度，精度誤差不僅反映偶然誤差，同時反映系統誤差。在巖礦石標本電參數測試中，兩種誤差都存在。但是如果只注意重復相對誤差，忽略系統誤差，對于良導塊狀礦石所測電參數將出現重大錯誤。

發明內容

本發明的目的在于正確測試巖礦石標本的真電參數，本發明規范了測試條件與技術要求，并在測試中消除由本發明發現的測試系統存在的本底電參數干擾，據此本發明實施例提供了一種巖礦石標本真電參數的測試方法，包括，

規范測試條件與技術要求，以及每塊待測巖礦石標本必須經過兩次測試結果，經發明公式計算得到每塊巖礦石標本的真電參數。第一次測試是測試的待測巖礦石標本，得到所述待測巖礦石標本的視極化率η_s和所述待測巖礦石標本的視電阻率ρ_s，及供電電流脈沖寬度T時刻電位值ΔU_MN(T)，所述測試電位電極之間的距離L_MN；

第二次測試是測試系統存在的本底電參數干擾，即取下已測試視電參數的巖礦石標本，將兩測試盒對接測試，得出該系統裝置的本底極化率η_b和本底電阻率ρ_b，及供電電流脈沖寬度T時刻的測試本底電位值ΔU_b(T)，對接測試時所述電位電極間的距離L_b；

根據上述得到的測得參數，通過發明的公式：