[發明專利]外置式數據粉碎及存儲設備再生設備以及方法

在審

• 申請號: 201410132130.0
• 申請日: 2014-04-02
• 公開（公告）號: CN103955437A
• 公開（公告）日: 2014-07-30
• 發明（設計）人: 蔡楊毅;蔡杰;莫小麗
• 申請（專利權）人: 江門市未來之星網絡科技有限公司
• 主分類號: G06F12/14
• 分類號: G06F12/14;G06F21/70;G06F11/22
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 譚志強

1.外置式數據粉碎及存儲設備再生設備，其特征在于：包括機殼以及設置在機殼內的主板、硬盤一、硬盤二，其中硬盤一是本再生設備的系統硬盤，其與主板相連；硬盤二安裝有專用維修系統，負責處理目標電腦內置存儲設備的維修；所述機殼上設置有用于接收目標存儲設備的對外接口模塊，所述對外接口模塊包括目標電腦連接端口、目標硬盤連接端口、目標USB存儲設備連接端口、COM接口；所述目標硬盤連接端口、目標USB存儲設備連接端口、COM接口與主板相連，所述目標電腦連接端口與硬盤二相連；還包括按鍵模塊和顯示模塊，所述按鍵模塊和顯示模塊分別與主板相連。

2.一種應用權利要求1所述設備的外置式數據粉碎及存儲設備再生方法，其特征在于，所述方法包括：

（1）接收目標存儲設備，對目標存儲設備進行CMOS檢測，檢測結果顯示在顯示模塊上，分三種情況：

（1.1）正常識別，直接進入步驟（2）；

（1.2）無法識別且一直停留在CMOS檢測畫面，則進入邏輯鎖解鎖流程，解鎖成功后進入步驟（2），若解鎖不成功，則進行深度再生處理；

（1.3）無法識別且一直停留在DOS畫面，則需要進行深度再生處理；

（2）對目標存儲設備進行固件信息檢測，檢測通過后，對目標存儲設備進行數據粉碎；若檢測不通過，進行深度再生處理；

（3）對完成數據粉碎的目標存儲設備進行盤面品質檢測，具體方法是檢測目標存儲設備的每個扇區進行讀寫測試時的時間反饋值，檢測結果分以下三種情況：

（3.1）所有邏輯塊地址LBA值的時間反饋值均小于150毫秒，表示盤面品質正常；

（3.2）部分邏輯塊地址LBA值的時間反饋值在150毫秒至500毫秒的區間內，表示存在危險磁道，需進入危險磁道再生流程，再生后重新進行盤面品質檢測，若通過，進入步驟（4）；若不通過，調整參數進行深度清零，若深度清零后還不能通過盤面品質檢測，則進行深度再生處理；

（3.3）部分邏輯塊地址LBA值的時間反饋值在500毫秒以上，表示存在損壞磁道，進入損壞磁道再生流程，再生后重新進行盤面品質檢測，若通過，則進入步驟（4）；若不通過，調整超時設置進行深度清零，若深度清零后還不能通過盤面品質檢測，則進行深度再生處理；

（4）對盤面品質正常的目標存儲設備的磁盤進行整理以及優化，以提高磁盤的讀寫速度。

3.根據權利要求2所述的外置式數據粉碎及存儲設備再生方法，其特征在于，步驟（1）中接收存儲設備后，還包括根據所連接的對外接口模塊的端口，選擇工作模式。

4.根據權利要求2所述的外置式數據粉碎及存儲設備再生方法，其特征在于，步驟（3.2）所述的危險磁道再生流程具體包括：

對于只有危險磁道且數量少于50個的目標存儲設備進行壞道擦除；

對于只有危險磁道且數量大于50個的目標存儲設備進行清零。

5.根據權利要求2所述的外置式數據粉碎及存儲設備再生方法，其特征在于，步驟（3.3）所述的損壞磁道再生流程具體包括：

對于扇區前面部分正常，但從某一邏輯塊地址LBA值開始，后面的扇區全是損壞磁道，即具有前好后壞問題的目標存儲設備進行手動降容處理；

對于沒有前好后壞問題，但有損壞磁道且數量少于50個的目標存儲設備進行壞道屏蔽；

對于沒有前好后壞問題，但有損壞磁道且數量大于50個的目標存儲設備進行清零。

6.根據權利要求2所述的外置式數據粉碎及存儲設備再生方法，其特征在于，所述深度再生處理具體包括更換電路板、更換電路板接口、更換磁頭、更換電機、重寫ROM、消減磁頭數、修復固件、指令修復LBA=0、解除固件鎖、重建譯碼表、處理增長缺陷表和永久缺陷表、硬盤密碼解鎖、磁盤降容、降密度、降速、優化后的SF自校修復。