[發(fā)明專利]TiN復(fù)合硬掩膜、用于形成互連層結(jié)構(gòu)的硬掩及互連層的制作方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410127662.5 | 申請日: | 2014-03-31 |
| 公開(公告)號: | CN104952707B | 公開(公告)日: | 2018-07-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 周鳴 | 申請(專利權(quán))人: | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/033 | 分類號: | H01L21/033;H01L21/768 |
| 代理公司: | 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240 | 代理人: | 吳貴明;張永明 |
| 地址: | 201203 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | tin 復(fù)合 硬掩膜 用于 形成 互連 結(jié)構(gòu) 制作方法 | ||
1.一種互連層的制作方法,其特征在于,所述制作方法包括以下步驟:
在Si襯底上依次形成SiO2介質(zhì)層、SiOC掩膜層以及由4組SiCN/TiN組成的TiN復(fù)合硬掩膜,其中,各組SiCN/TiN中,所述SiCN的高度所述TiN的高度形成所述TiN的反應(yīng)條件為:以TiCl4和NH3為反應(yīng)氣體,TiCl4的流量為400sccm,NH3的流量為300sccm,反應(yīng)室內(nèi)的壓強為5torr,沉積溫度為500℃,沉積時間為15秒;
刻蝕所述TiN復(fù)合硬掩膜、所述SiOC掩膜層和所述SiO2介質(zhì)層形成通孔,通過電鍍工藝在通孔中形成Cu預(yù)備層,以及采用化學(xué)機械拋光去除SiO2介質(zhì)層上的所述TiN復(fù)合硬掩膜、所述SiOC掩膜層和所述Cu預(yù)備層的步驟;化學(xué)機械拋光的工藝條件為:研磨頭上施加的壓力為220g/cm2,研磨頭的轉(zhuǎn)速為85r/min,拋光液的流速260mL/min,拋光溫度為35℃,拋光時間為35秒。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





