[發明專利]一種低成本、高精度LED結點溫度測量儀器在審
| 申請號: | 201410127408.5 | 申請日: | 2014-03-31 |
| 公開(公告)號: | CN104807552A | 公開(公告)日: | 2015-07-29 |
| 發明(設計)人: | 康勤;汪鋼;趙正之 | 申請(專利權)人: | 上海力茲照明電氣有限公司 |
| 主分類號: | G01K7/00 | 分類號: | G01K7/00 |
| 代理公司: | 寧波理文知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 33244 | 代理人: | 孟湘明 |
| 地址: | 201715 上海市青浦區*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 低成本 高精度 led 結點 溫度 測量 儀器 | ||
1.一種LED結點溫度測量儀器,其特征在于,包括:?
一正向壓降檢測單元;?
一數據獲取裝置;?
一水銀開關;和?
一LED驅動,其中所述LED驅動為恒定電流源,其中所述數據獲取裝置可通電地與所述壓降檢測單元相連接;其中所述水銀開關在測量過程中能夠將待測LED結點自LED驅動切換至一個等效負荷,和在完成測量后將所述LED結點自所述等效負荷切換至所述LED驅動。?
2.根據權利要求1所述的LED結點溫度測量儀器,其特征在于,所述水銀開關的切換時間小于20ms。?
3.根據權利要求1所述的LED結點溫度測量儀器,其特征在于,所述LED結點溫度測量儀器能夠提供一個等效負荷,其中所述等效負荷在測量期間連接于所述LED驅動。?
4.根據權利要求2所述的LED結點溫度測量儀器,其特征在于,所述LED結點溫度測量儀器能夠提供一個等效負荷,其中所述等效負荷在測量期間連接于所述LED驅動。?
5.根據權利要求1所述的LED結點溫度測量儀器,其特征在于,進一步包括一個電力供應裝置,其中所述電力供應裝置可通電地分別與所述水銀開關和所述數據獲取裝置相連接,并能夠為所述水銀開關和所述數據獲取裝置提供電能。?
6.根據權利要求4所述的LED結點溫度測量儀器,其特征在于,進一步包括一個電力供應裝置,其中所述電力供應裝置可通電地分別與所述水銀開關和所述數據獲取裝置相連接,并能夠為所述水銀開關和所述數據獲取裝置提供電能。?
7.根據權利要求1所述的LED結點溫度測量儀器,其特征在于,進一步包括一個數據傳輸接口,其中所述數據傳輸接口與所述數據獲取裝置可通電地相連接,且所述數據獲取裝置中的數據可通過所述數據傳輸接口被下載。?
8.根據權利要求6所述的LED結點溫度測量儀器,其特征在于,進一步包括一個數據傳輸接口,其中所述數據傳輸接口與所述數據獲取裝置可通電地相連接,且所述數據獲取裝置中的數據可通過所述數據傳輸接口被下載。?
9.根據權利要求1所述的LED結點溫度測量儀器,其特征在于,進一步包括一個熱耦合溫度計用于測量室溫。?
10.根據權利要求8所述的LED結點溫度測量儀器,其特征在于,進一步包括一個熱耦合溫度計用于測量室溫。?
11.根據權利要求1所述的LED結點溫度測量儀器,其特征在于,其中在測量期間,所述LED驅動僅有兩個端口可通電地連接于所述正向壓降檢測單元,且其它端口被繼電器物理性地與所述LED驅動斷開,或被光電耦合器阻斷。?
12.根據權利要求10所述的LED結點溫度測量儀器,其特征在于,其中在測量期間,所述LED驅動僅有兩個端口可通電地連接于所述正向壓降檢測單元,且其它端口被繼電器物理性地與所述LED驅動斷開,或被光電耦合器阻斷。?
13.一種LED結點溫度測量方法,其特征在于,包括以下步驟:?
(A)連接一LED驅動至一待測LED結點,其中所述LED驅動為恒定電流源;?
(B)等待至所述LED驅動的電流輸出穩定,啟動一個數據獲取裝置和通過一個水銀開關將待測LED結點自LED驅動切換至一個等效負荷;?
(C)數據獲取結束后,通過所述水銀開關將待測LED結點自LED驅動切換至所述等效負荷。?
14.根據權利要求13所述的LED結點溫度測量方法,其特征在于,進一步包括一個自檢驗步驟,其中所述自檢驗步驟在上述步驟(A)之前和包括下述步驟:?
1)在室溫下,連接待測LED結點至一個LED結點溫度測量儀器;?
2)在環境溫度穩定后,打開數據獲取裝置以測量具有內部恒定電流源的第一數據點;?
3)移動被測LED結點至一個烤箱內,調整該烤箱的溫度至高于室溫50℃;?
4)按照步驟2以獲得第二數據點;?
5)使用第一數據和第二數據點以制得一自檢驗K線圖。?
15.根據權利要求13所述的LED結點溫度測量方法,其特征在于,進一步包括一個自檢驗步驟,其中所述自檢驗步驟在上述步驟(A)之前和包括下述步驟:?
1)在室溫下,將LED結點至一個LED結點溫度測量儀器;?
2)溫度穩定之后,打開數據獲取裝置以獲取第一數據點;?
3)移動所述LED結點至一個烤箱內,調整該烤箱的溫度至高于室溫50℃;?
4)按照步驟2獲得第二LED正向電壓;?
5)使用第一數據和第二數據點以制得一自檢驗K線圖。?
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