[發明專利]一種用于可轉位數控周邊磨床B軸精度測量的系統

有效

• 申請號: 201410125625.0
• 申請日: 2014-03-26
• 公開（公告）號: CN104165589B
• 公開（公告）日: 2018-06-05
• 發明（設計）人: 裴忠;吳建強;鄒偉杰;金宇立
• 申請（專利權）人: 天通吉成機器技術有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 杭州千克知識產權代理有限公司 33246
• 代理人: 趙芳

本發明公開了一種用于可轉位數控周邊磨床B軸精度測量的系統；包括數控系統和主機B軸；還包括依次連接的測量塊、高精度圓光柵、數顯變送器和上位機組成；所述測量塊安裝于B軸一側；所述上位機上設置有預輸入模塊、測量報告生成模塊和輸出系統補償模塊；所述預輸入模塊包括目標設定模塊、采集數據啟動模塊和自動數據采集設定模塊。本發明通過測量塊和高精度圓光柵配合，在整機試磨前檢驗其精度問題，并將其數據回送到數控系統，進行適當的補償；同時也可以自動生成系統補償表。

技術領域

本發明涉及一種用于可轉位數控周邊磨床B軸精度測量的系統。

背景技術

在現有技術中，在利用數控可轉位刀片周邊磨床在磨削硬質合金數控刀片時，其加工精度是重要的指標；在加工過程中，B軸是周邊磨床最主要的軸之一，他的精度直接影響到加工工件(刀片)的精度；而周邊磨床內B軸的位置比較特殊，其體積比較小，因此一般的激光干涉儀等設備都無法安裝和測量；從而導致B軸的精度無法檢測，加工工件無法保證質量；現有的技術中一般只能通過大量試磨的方法來檢驗精度，這樣會帶來一旦出現精度問題，更換和安裝都比較困難。

發明內容

本發明提出了一種用于可轉位數控周邊磨床B軸精度測量的系統，通過測量塊和高精度圓光柵配合，在整機試磨前檢驗其精度問題，并進行適當的補償。

本發明采用的技術方案是：

一種用于可轉位數控周邊磨床B軸精度測量的系統，包括數控系統和主機B軸，其特征在于：所述主機B軸的一側安裝有測量塊，所述測量塊上依次連接有高精度圓光柵、數顯變送器和上位機，所述上位機與數控系統連接，所述上位機上設置有預輸入模塊、測量報告生成模塊和輸出補償數據給數控系統的輸出系統補償模塊；所述預輸入模塊包括目標設定模塊、采集數據啟動模塊和自動數據采集設定模塊。

進一步，所述高精度圓光柵為18000線的圓光柵，其測量步距可以達到0.005°。

進一步，所述上位機通過USB口連接數顯變送器。

進一步，所述目標設定模塊包括輸入第一定位點、最終定位點、間距值、目標值和小數點后位數預輸入模塊。

進一步，所述采集數據啟動模塊包括定位方式、測量次數和選擇測量方向預輸入模塊。

進一步，所述自動數據采集設定模塊由采集方式設定模塊組成；所述采集方式設定模塊包括定時采集模塊和位置采集模塊。

本發明的有益效果：本發明通過測量塊和高精度圓光柵配合，在整機試磨前檢驗其精度問題，并將其數據回送到數控系統，進行適當的補償；同時也可以自動生成系統補償表。

附圖說明

圖1是本發明的整體流程示意圖；

圖2是本發明的目標設定模塊示意圖；

圖3為本發明的采集數據啟動模塊示意圖；

圖4為本發明的自動數據采集設定模塊示意圖。

具體實施方式

下面結合具體實施例來對本發明進行進一步說明，但并不將本發明局限于這些具體實施方式。本領域技術人員應該認識到，本發明涵蓋了權利要求書范圍內所可能包括的所有備選方案、改進方案和等效方案。

參照圖1、圖2，一種用于可轉位數控周邊磨床B軸精度測量的系統，包括數控系統和主機B軸，所述主機B軸的一側安裝有測量塊，所述測量塊上依次連接有高精度圓光柵、數顯變送器和上位機，所述上位機與數控系統連接，所述上位機上設置有預輸入模塊、測量報告生成模塊和輸出補償數據給數控系統的輸出系統補償模塊；所述預輸入模塊包括目標設定模塊、采集數據啟動模塊和自動數據采集設定模塊。

本實施例所述高精度圓光柵為18000線的圓光柵，其測量步距可以達到0.005°。