[發(fā)明專利]磁共振成像系統(tǒng)的射頻線圈功率損耗的確定方法和裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410123909.6 | 申請(qǐng)日: | 2014-03-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104950166B | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-08-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林厚全;唐煜 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西門子(深圳)磁共振有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R21/06 | 分類號(hào): | G01R21/06;G06F17/15;G01R33/32 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 518057 廣東省深圳*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 磁共振 成像 系統(tǒng) 射頻 線圈 功率 損耗 確定 方法 裝置 | ||
1.一種磁共振成像系統(tǒng)的射頻線圈功率損耗的確定方法,包括:
執(zhí)行一負(fù)載全反射測(cè)試;
檢測(cè)所述負(fù)載全反射測(cè)試的一負(fù)載全反射功率損耗;
基于所述負(fù)載全反射功率損耗和一特定參數(shù)之積確定所述射頻線圈功率損耗,
所述特定參數(shù)是K,
其中,所述射頻線圈是具有一第一端口和一第二端口的一體線圈,U1是射頻線圈第一端口射頻電壓,U2是射頻線圈第二端口射頻電壓;U1_ref是負(fù)載全反射第一端口射頻電壓,U2_ref是負(fù)載全反射第二端口射頻電壓,
利用所述射頻線圈執(zhí)行一磁共振掃描,并根據(jù)所述磁共振掃描時(shí)所述磁共振成像系統(tǒng)的功率分配器的一第一功率特性參數(shù)以及該功率分配器與該射頻線圈之間的一傳輸路徑參數(shù),確定所述射頻線圈第一端口射頻電壓和所述射頻線圈第二端口射頻電壓,
根據(jù)所述負(fù)載全反射測(cè)試時(shí)所述磁共振成像系統(tǒng)的功率分配器的一第二功率特性參數(shù)及所述傳輸路徑參數(shù),確定所述負(fù)載全反射第一端口射頻電壓和負(fù)載全反射第二端口射頻電壓。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的確定方法,其特征在于,所述確定所述射頻線圈第一端口射頻電壓和所述射頻線圈第二端口射頻電壓包括:
其中,所述第一功率特性參數(shù)包括:一第一輸入端口的一入射功率值PF和一反射功率值PR;一第二輸入端口的一入射功率值PK和一反射功率值PD,其中PK等于零;
所述傳輸路徑參數(shù)包括:一第一端口路徑幅度衰減A1、一第一端口路徑相位一第二端口路徑幅度衰減A2、一第二端口路徑相位
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的確定方法,其特征在于,還包括:利用所述射頻線圈執(zhí)行一磁共振掃描,檢測(cè)所述射頻線圈第一端口射頻電壓和所述射頻線圈第二端口射頻電壓。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的確定方法,其特征在于,所述確定所述負(fù)載全反射第一端口射頻電壓和負(fù)載全反射第二端口射頻電壓包括:
其中,所述第二功率特性參數(shù)包括:一第一輸入端口的一入射功率值PF_ref和一反射功率值PR_ref;一第二輸入端口的一入射功率值PK_ref和一反射功率值PD_ref,其中PK_ref等于零;
所述傳輸路徑參數(shù)包括:一第一端口路徑幅度衰減A1、一第一端口路徑相位一第二端口路徑幅度衰減A2、一第二端口路徑相位
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的確定方法,其特征在于,還包括:檢測(cè)所述負(fù)載全反射第一端口射頻電壓和所述負(fù)載全反射第二端口射頻電壓。
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