[發明專利]一種基于紋理的射線圖像缺陷檢測方法

在審

• 申請號: 201410123705.2
• 申請日: 2014-03-28
• 公開（公告）號: CN103886602A
• 公開（公告）日: 2014-06-25
• 發明（設計）人: 沈寬;趙亞丁
• 申請（專利權）人: 重慶大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 北京同恒源知識產權代理有限公司 11275
• 代理人: 趙榮之

1.一種基于紋理的射線圖像缺陷檢測方法，其特征在于：具體包括以下步驟：

S1：根據被檢對象射線成像中的缺陷特征建立缺陷的紋理圖像數據庫；

S2：獲取待測對象的現場射線圖像；

S3：增強現場射線圖像，獲得增強后的增強射線圖像；

S4：從增強射線圖像中計算子塊圖像的紋理特征值，依次比較該特征值與缺陷紋理庫的特征值，從而判定該子塊圖像是否為缺陷；

S5：遍歷整個增強射線圖像檢測出該圖像各個子塊圖像的紋理特征值，利用這些特征值與缺陷紋理庫的特征值進行比較；

S6：采用判別標準確定增強射線圖像的各個子塊是否包含缺陷以及缺陷類型、等級；

S7：將缺陷檢測結果記錄到數據庫中供檢測人員參考，并形成缺陷檢測報告。

2.根據權利要求1所述的基于紋理的射線圖像缺陷檢測方法，其特征在于：所述S1中按如下方式執行：

缺陷紋理庫的建立參照目前已有的產品檢測標準和圖譜，對待測的每種工件進行射線檢測，從增強后的圖像中選擇缺陷區域加入到紋理庫中。

3.根據權利要求1所述的基于紋理特征的射線圖像缺陷檢測方法，其特征在于：所述S3具體包括以下子步驟：

S31：首先從使用線性拉伸方法被測工件射線圖像中獲取包含不同缺陷特征的多幅圖像；

S32：然后對多幅圖像分別采用多分辨率方法進行多層分解，將圖像分解為不同層上的頻率系數；

S33：對頻率系數進行融合處理，得到融合后的多分辨率頻率系數金字塔；

S34：最后對融合后所得多分辨率頻率系數金字塔進行重構，得到重構圖像即為增強射線圖像。

4.根據權利要求1所述的基于紋理特征的射線圖像缺陷檢測方法，其特征在于：所述S5還包括以下步驟：

設G為大小為M×N的待檢測圖像，F_i為大小為a×b為檢測模板，i=1,2,…,N，使用紋理分析方法檢測圖像缺陷的基本流程如下：

S41：圖像分割，將待檢測圖像G分割為若干個F_i大小的子塊；

S42：計算子塊圖像值，對分割后相應位置的各個子圖像計算值；

S43：計算檢測模板圖像的值；

S44：依次計算模板圖像與各個子圖像值之間的距離，若距離小于限定值則該塊區域為缺陷；

S45：依次在待檢測圖像中標記區域位置。

5.根據權利要求4所述的基于紋理的射線圖像缺陷檢測方法，其特征在于：在進行圖像分割時，將圖像劃分為相互重疊的子塊。

6.根據權利要求5所述的基于紋理的射線圖像缺陷檢測方法，其特征在于：在進行圖像分割時，將圖像分割為塊。