[發明專利]一種利用光源抑制偏振串音測量噪聲的裝置及檢測方法

有效

• 申請號: 201410120580.8
• 申請日: 2014-03-28
• 公開（公告）號: CN103900680A
• 公開（公告）日: 2014-07-02
• 發明（設計）人: 楊軍;李創;苑勇貴;彭峰;吳冰;苑立波
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工程大學
• 主分類號: G01H9/00
• 分類號: G01H9/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種利用光源抑制偏振串音測量噪聲的裝置，包括寬譜光源（100）、待測偏振器件（110）、光程相關器（120）、差分探測裝置（130）、光電信號轉換與信號記錄裝置（140）；其特征是：寬譜光源（100）包括高偏振度的低相干光源（101）、偏振態控制器（102）、偏振器件（103），高偏振度的低相干光源（101）經由偏振態控制器（102）調節再與偏振器件（103）連接輸出高偏振度的線偏振光；高偏振度的線偏振光依次通過第1旋轉連接器（111）、待測光纖器件（112）、第2旋轉連接器（113）、檢偏器（114）進入到光程相關器（120）；檢偏器（114）通過輸入端口（1a）與第1耦合器（121）連接，第1耦合器（111）的輸出端口（1c）、（1d）分別與光程相關器（110）的兩個干涉臂中的掃描臂（1A）和參考臂（1B）相連；光通過位移掃描裝置（125）掃描，與參考臂（1B）中的光在第2耦合器（122）的兩個輸入端口（1e、1f）匯合干涉；第2耦合器（122）的兩個輸出端最后與差分探測裝置（130）連接；經過差分后信號輸入到干涉信號檢測與處理裝置（140）進行分析。

2.根據權利要求1所述的利用光源抑制偏振串音測量噪聲的裝置，其特征是：所述的偏振態控制器（102）由輸入光纖（2a）、第1光纖環（21）、第2光纖環（22）、第3光纖環（23）、輸出光纖（2b）組成，其輸入光纖（2a）和輸出光纖（2b）均為單模光纖。

3.根據權利要求1所述的利用光源抑制偏振串音測量噪聲的裝置，其特征是：所述的偏振態控制器（102）由輸入光纖（3a）、光纖擠壓器（31）、光纖扭轉器（32）、輸出光纖（3b）組成，通過擠壓、扭轉實現偏振控制，其輸入光纖（3a）和輸出光纖（3b）均為單模光纖。

4.根據權利要求1、2或3所述的利用光源抑制偏振串音測量噪聲的裝置，其特征是：所述偏振器件（103）是由鈮酸鋰晶體材料構成的波導型偏振器（6），波導芯片（62）中只支持一個偏振極化方向導模的傳輸，且具有極高的消光比，≥80dB；輸入光纖（61）為單模光纖，輸出光纖（63）為保偏光纖。

5.一種權利要求1所述的利用光源抑制偏振串音測量噪聲裝置的檢測的方法，其特征是：

1）將高偏振度的低相干光源（101）發出的寬光譜范圍、高線偏振光注入到1×2光纖耦合器（104）中，第1輸出端連接第1光電探測器（105），進行相應的狀態監測，第2輸出端連接偏振態控制器（102）、偏振器件（103）；

2）調節偏振態控制器（102），改變高偏振度的低相干光源（101）輸出光的長軸角度，使其經過偏振器件（103）后光強達到最大；

3）調節波導芯片（62）與輸出光纖（63）角度，使二者在快軸或慢軸方向進行對軸，在焊點106處進行焊接，誤差小于0.2°；

4）高偏振度的低相干光源（101）經過相關器件調整后發出的線偏振光，依次通過待測偏振器件（110）、光程相關器（120）、差分探測裝置（130），經過差分后信號輸入到干涉信號檢測與處理裝置（140）進行分析。