[發明專利]濾光片外觀缺陷自動檢測方法

有效

• 申請號: 201410119864.5
• 申請日: 2014-03-28
• 公開（公告）號: CN104076039B
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發明（設計）人: 葉向陽;楊士偉;朱青華;陳浩
• 申請（專利權）人: 合波光電通信科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;B07C5/342
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司33200
• 代理人: 林松海

技術領域

本發明涉及一種光學器件生產過程中的外觀缺陷檢測方法，尤其是涉及一種濾光片外觀缺陷自動檢測方法。

背景技術

濾光片是現代光學器件的重要組成部分，通過在基底材料表面鍍上多層膜，利用光的干涉效應改變透射光或反射光的偏振、相位及能量，在改進光器件功能，改進光鏈路的耦合效率等方面起著十分關鍵的作用，被廣泛的應用在光通信網絡中。隨著遠程通信和波分復用技術的發展，光通信技術對濾光片的設計和工藝提出了更高的要求，濾光片產品的品質好壞就變得尤為重要。

在濾光片生產過程中會產生劃痕、崩邊、長毛等多種外觀缺陷，目前國內的生產廠家多是通過在顯微鏡下人工目檢的方法對上述外觀缺陷進行檢測，這樣存在的問題是：1）人眼一次檢測一個產品，由于外觀缺陷分類較多導致檢測效率低下，且易產生疲勞等反應而帶來不必要的誤差；2）各操作工在檢測時對標準的掌控程度不一致，個人主觀因素影響較大，會造成一批產品質量參差不齊；3）一些不易被人眼檢測到的外觀缺陷不能及時被發現，給生產者和使用者都帶來不必要的損失；4）檢測完成后的濾光片產品為人工分揀，效率較低。

發明內容

為了克服現有技術的不足，本發明提供一種濾光片外觀缺陷自動檢測方法。

依據本發明提供的一種濾光片外觀缺陷自動檢測方法包含以下步驟：

A．設定濾光片外觀缺陷的檢測參數；

B．選定光學鏡頭檢測范圍；

C．低倍鏡檢測，標記出明顯不合格的濾光片并儲存檢測結果；

D．高倍鏡檢測，儲存剩余濾光片的檢測結果；

E．根據檢測結果對所述剩余濾光片進行分類標記，并生成對應的圖譜（即MAP圖）；

F．根據MAP圖對濾光片進行自動歸類分揀。

優選地，所述步驟A中的所述檢測參數包括通光面積、麻點，崩邊、臟污、灰度、亮點、點子密集度、劃痕。

優選地，所述步驟B中的所述光學鏡頭的檢測范圍為包含待檢的所有的所述濾光片的最小矩形范圍。

進一步地，所述步驟C中包括：通過選擇并控制所述低倍鏡移動，依次對待檢的所有的所述濾光片進行檢測，根據檢測結果標記出明顯不合格的濾光片并儲存檢測結果。

優選地，所述步驟C中包括：對待檢的所有的所述濾光片的通光面積、亮點和暗點進行檢測。

進一步地，所述步驟D中包括：自動排除所述步驟C中標記出的明顯不合格的濾光片，將所述低倍鏡切換為所述高倍鏡，控制所述高倍鏡移動，以依次對除所述明顯不合格的濾光片以外的剩余的所述待檢濾光片進行檢測。

與背景技術相比，本發明的有益效果是：

1、能夠實現對濾光片多種外觀缺陷的自動檢測，極大地提高了檢測效率，避免人為檢測誤差，提高檢測準確度。

2、從機器視覺的角度按照統一標準去檢測濾光片的外觀缺陷，保證了濾光片質量的穩定性和統一性。

3、對濾光片的檢測完成后，生成相應的MAP圖，并根據MAP圖進行自動歸類分揀，極大地提高生產效率。

附圖說明

通過以下參照附圖對本發明實施例的描述，本發明的上述以及其它目的、特征和優點將更為清楚，在附圖中：

圖1是依據本發明一實施例的一種濾光片外觀缺陷檢測系統的示意圖。

圖2是依據本發明一實施例的一種濾光片外觀缺陷自動檢測方法的檢測流程圖。

圖3是依據本發明一實施例的一種濾光片外觀缺陷自動檢測方法得到的圖譜。

圖中，1為計算機、2為光學鏡頭、31和32為檢測夾具臺、4為真空控制器、5為步進電機、6為吸附擺臂。

具體實施方式

以下結合附圖對本發明的優選實施例進行詳細描述。雖然本發明是結合以下的優選實施例進行描述的，但是本發明并不僅僅限于這些實施例。在下文對本發明的細節描述中，詳盡描述了一些特定的細節部分。對本領域技術人員來說沒有這些細節部分的描述也可以完全理解本發明。

此外，本領域普通技術人員應當理解，在此提供的附圖都是為了說明的目的，并且附圖不一定是按比例繪制的。

除非上下文明確要求，否則整個說明書和權利要求書中的“包括”、“包含”等類似詞語應當解釋為包含的含義而不是排他或窮舉的含義；也就是說，是“包括但不限于”的含義。

下面結合附圖和具體實施例對本發明做進一步說明。