[發明專利]一種基于隱寫分析的圖像拼接篡改檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 201410118902.5
• 申請日: 2014-03-27
• 公開（公告）號: CN103914839B
• 公開（公告）日: 2017-02-15
• 發明（設計）人: 丘曉青;李昊東;駱偉祺;黃繼武
• 申請（專利權）人: 中山大學;深圳大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司44102
• 代理人: 林麗明

1.一種基于隱寫分析的圖像拼接篡改檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1：選取若干未經拼接篡改的圖像作為原始圖像，使用圖像處理軟件對原始圖像，以圖像拼接的方式對圖像文件進行篡改，獲取拼接篡改后的圖像；

S2：使用高級隱寫分析統計模型對原始圖像和拼接篡改后的圖像提取特征；

S3：根據步驟S2中得到的特征，用原始圖像與拼接篡改后的圖像對分類器進行訓練，得到分類器模型；

S4：提取待測圖像的特征，根據分類器模型判斷待測圖像是否被拼接篡改。

2.根據權利要求1所述的基于隱寫分析的圖像拼接篡改檢測方法，其特征在于，步驟S1中，原始圖像通過拍攝設備拍攝得到且未經壓縮。

3.根據權利要求1所述的基于隱寫分析的圖像拼接篡改檢測方法，其特征在于，步驟S1中，對原始圖像文件進行拼接篡改時考慮圖像語義，使人眼難以識別。

4.根據權利要求1所述的基于隱寫分析的圖像拼接篡改檢測方法，其特征在于，步驟S2中，使用的高級隱寫分析統計模型為數字圖像隱寫分析富模型，對原始圖像和拼接篡改后的圖像提取特征具體包括以下步驟：

（1）計算圖像的殘差矩陣：如果圖像為彩色圖象，首先將彩色圖像轉成灰度圖像，或者選擇彩色圖像RGB通道的其中一個通道，分別利用線性和非線性濾波器，對圖像進行濾波操作，分別得到不同的殘差矩陣；

（2）對得到的殘差矩陣進行歸一化：以q>0的量化步長對殘差矩陣進行量化，接著以T>0對殘差矩陣進行截斷，只保留在[-T,T]范圍的系數；

（3）利用共生矩陣計算殘差矩陣的統計特征：對于每個不同的殘差矩陣，對于水平方向和垂直方向，分別利用共生矩陣統計同一方向相鄰四個系數之間的相關性，得到四維度的共生矩陣系數；組合所有的共生矩陣系數特征，組織成向量形式，得到圖像的富模型統計特征。

5.根據權利要求4所述的基于隱寫分析的圖像拼接篡改檢測方法，其特征在于，步驟（2）中，選取的參數為T=q=2。

6.根據權利要求1所述的基于隱寫分析的圖像拼接篡改檢測方法，其特征在于，步驟S3中，分類器是SVM或Ensemble。

7.一種基于隱寫分析的圖像拼接篡改檢測裝置，其特征在于，包括：

拼接篡改模塊：用于對選未經拼接篡改的原始圖像以圖像拼接的方式對圖像文件進行篡改，構造拼接篡改后的圖像；

特征提取模塊：用于使用高級隱寫分析統計模型對原始圖像和拼接篡改后的圖像提取特征；

分類器訓練模塊：用于根據提取到的特征，用原始圖像與拼接篡改后的圖像對分類器進行訓練，得到分類器模型；

圖像檢測模塊：用于根據待測圖像的特征和分類器模型判斷待測圖像是否被拼接篡改。