[發(fā)明專利]用于制造可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)、器件和器件構(gòu)件的松脫策略有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410111306.4 | 申請日: | 2007-09-20 |
| 公開(公告)號: | CN103956336B | 公開(公告)日: | 2019-08-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | J·A·羅杰斯;R·G·諾奧;M·梅爾特;高興助;J·尹;E·梅納德;A·J·巴卡 | 申請(專利權(quán))人: | 伊利諾伊大學(xué)評議會 |
| 主分類號: | H01L21/78 | 分類號: | H01L21/78;B81C1/00;H01L31/068;H01L31/0687;H01L31/072;H01L31/0725;H01L29/15;H01L29/20 |
| 代理公司: | 北京北翔知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11285 | 代理人: | 李潔;楊勇 |
| 地址: | 美國伊*** | 國省代碼: | 美國;US |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 制造 轉(zhuǎn)移 半導(dǎo)體 結(jié)構(gòu) 器件 構(gòu)件 策略 | ||
1.一種制造錨定到襯底的可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體元件的方法,所述方法包括以下步驟:
產(chǎn)生由所述襯底的外表面支撐的所述可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體元件;
提供異質(zhì)錨元件,所述異質(zhì)錨元件與所述可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體元件物理接觸且沿著所述可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體元件的側(cè)邊延伸,并與所述襯底或其上設(shè)置的結(jié)構(gòu)物理接觸,從而將所述可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體元件錨定到所述襯底,使得當(dāng)去除在所述可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體元件下面的犧牲層時所述異質(zhì)錨元件維持所述可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體元件的空間取向。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中提供所述異質(zhì)錨元件的所述步驟包括沉積或涂布對所述襯底的一部分進行覆蓋的材料層。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其中所述材料層覆蓋所述襯底的所述外表面的一部分。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其中產(chǎn)生所述可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體元件的所述步驟暴露出所述外表面或其上設(shè)置的結(jié)構(gòu)的一個或多個暴露區(qū)域,其中,所述提供所述異質(zhì)錨元件的步驟包括將所述材料層沉積或涂布在所述外表面或其上設(shè)置的結(jié)構(gòu)的所述暴露區(qū)域的至少一部分上。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其中所述材料層包括薄膜結(jié)構(gòu)。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其中所述材料層包括阻擋材料。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其中所述材料層包括SiN或PECVD電介質(zhì)。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其中所述材料層被設(shè)置為與所述可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體元件的一側(cè)接觸并沿著該側(cè)延伸,其中所述材料層終止于所述襯底的所述外表面或其上設(shè)置的結(jié)構(gòu)并且與所述襯底的所述外表面或其上設(shè)置的結(jié)構(gòu)接觸。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其中所述材料層包括將所述可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體元件的一側(cè)連接到所述襯底的所述外表面或其上設(shè)置的結(jié)構(gòu)的柱結(jié)構(gòu)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中所述可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體元件包括單個半導(dǎo)體層。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中所述可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體元件包括具有多個半導(dǎo)體層的多層結(jié)構(gòu)。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中產(chǎn)生所述可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體元件的所述步驟包括提供由所述襯底的外表面支撐的可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體元件的多層陣列;其中提供所述異質(zhì)錨元件的所述步驟包括沉積或涂布材料層,該材料層接觸在所述多層陣列中的所述可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體元件的側(cè)面,并接觸所述襯底的所述外表面或其上設(shè)置的結(jié)構(gòu)的一部分。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中所述異質(zhì)錨元件用作蝕刻阻止層。
14.一種組裝可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體元件的方法,所述方法包括以下步驟:
提供權(quán)利要求1所述的錨定到所述襯底的可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體元件;
通過印刷將所述可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體元件轉(zhuǎn)移到器件襯底上。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法,其中所述通過印刷將所述可轉(zhuǎn)移半導(dǎo)體元件轉(zhuǎn)移到所述器件襯底上的步驟通過接觸印刷進行。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于伊利諾伊大學(xué)評議會,未經(jīng)伊利諾伊大學(xué)評議會許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410111306.4/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 轉(zhuǎn)移支撐件及轉(zhuǎn)移模塊
- 轉(zhuǎn)移頭及其制備方法、轉(zhuǎn)移方法、轉(zhuǎn)移裝置
- 器件轉(zhuǎn)移裝置、轉(zhuǎn)移系統(tǒng)及轉(zhuǎn)移方法
- 轉(zhuǎn)移設(shè)備和轉(zhuǎn)移系統(tǒng)
- 轉(zhuǎn)移基板及制備方法、轉(zhuǎn)移裝置、轉(zhuǎn)移方法
- 轉(zhuǎn)移裝置與轉(zhuǎn)移方法
- 轉(zhuǎn)移系統(tǒng)和轉(zhuǎn)移方法
- 轉(zhuǎn)移膜、轉(zhuǎn)移組件和微器件曲面轉(zhuǎn)移方法
- 轉(zhuǎn)移頭、轉(zhuǎn)移裝置和轉(zhuǎn)移方法
- 轉(zhuǎn)移工具及轉(zhuǎn)移方法





