[發明專利]基于聯合去噪和偽哈密頓量的Duffing振子弱信號檢測方法

有效

• 申請號: 201410110813.6
• 申請日: 2014-03-24
• 公開（公告）號: CN103884421A
• 公開（公告）日: 2014-06-25
• 發明（設計）人: 張剛;王穎;張天騏;李波;王源;賀利芳
• 申請（專利權）人: 重慶郵電大學
• 主分類號: G01H17/00
• 分類號: G01H17/00
• 代理公司: 重慶市恒信知識產權代理有限公司 50102
• 代理人: 劉小紅

1.一種基于聯合去噪和偽哈密頓量的Duffing振子弱信號檢測方法，其特征在于包括以下步驟：

101、對待測高頻工程信號經過二次采樣，即將采樣頻率為fs的高頻工程信號信號變換為二次采樣頻率為fs'的低頻參數信號，其中低頻參數信號x(t)=s(t)+n(t)，s(t)是周期信號，n(t)是均值為零的高斯白噪聲；

102、將步驟101中得到的低頻參數信號x(t)=s(t)+n(t)通過自相關器得到輸出信號的函數表達式為：Rxx(τ)=limT0→∞1T0∫-T0/2T0/2x(t)x(t-τ)dt=Rss(τ)+Rsn(τ)+Rns(τ)+Rnn(τ),]]>其中，T₀為待測周期信號周期，τ為延遲時間，R_ss(τ)和R_nn(τ)分別為周期信號與白噪聲的自相關函數，R_sn(τ)為周期信號與白噪聲的互相關函數，R_ns(τ)為白噪聲與周期信號的互相關函數，進行噪聲抑制得到自相關信號x(t)'，所述自相關信號x(t)'中去掉了低頻參數信號的相位信息；

103、對步驟102中得到的自相關信號x(t)'進行小波閾值變換，去除自相關信號x(t)'中剩余的噪聲得到信號x(t)''；

104、將步驟103中去噪后得到的信號x(t)''輸入Duffing振子檢測系統，設置Duffing振子檢測系統的初始狀態參數，包括Duffing振子檢測系統驅動力的臨界閾值N1、Duffing振子阻尼比及系統初始狀態位置；

105、計算步驟104中輸入Duffing振子檢測系統的平均偽哈密頓量APH，用T表示其大小，其中，N為動力系統的時間序列長度，i為系統的第i個狀態，x_i，y_i表示Duffing振子在系統的第i個狀態下的相圖位置，設定系統偽哈密頓量門限閾值為μ，當T≥μ時，則判斷系統處于大周期狀態，且有信號存在；若T<μ時，則判斷信號處于混沌狀態，且沒有信號存在。