[發明專利]高壓開關動特性測試儀校驗裝置

在審

• 申請號: 201410110747.2
• 申請日: 2014-03-24
• 公開（公告）號: CN103869272A
• 公開（公告）日: 2014-06-18
• 發明（設計）人: 黃吉勝;牛濱;敖紅光;周紹杰;苑加和
• 申請（專利權）人: 哈爾濱理工大學
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 哈爾濱東方專利事務所 23118
• 代理人: 陳曉光

技術領域：

本發明涉及一種高壓開關動特性測試儀校驗裝置。

背景技術：

隨著科學技術的發展，智能型高壓開關動特性測試儀器不斷出新，但對應的校驗技術和設備仍比較落后，存在著功能簡單，自動化程度不高，校驗接線復雜，附加誤差不確定，工作效率低等不足，影響了其發展和應用。

發明內容：

本發明的目的是提供一種高壓開關動特性測試儀校驗裝置。

上述的目的通過以下的技術方案實現：

一種高壓開關動特性測試儀校驗裝置，其組成包括：殼體，所述的殼體內安裝有衰減電路、放大電路，所述的衰減電路與交直流轉換電路連接，所述的交直流轉換電路與A/D轉換器連接，所述的A/D轉換器與光電耦合器A連接，所述的放大電路與整流電路連接，所述的整流電路與調理電路連接，所述的調理電路與輸入電路連接，所述的輸入電路與光電耦合器B連接，所述的光電耦合器A、所述的光電耦合器B分別與微處理器連接，所述的微處理器與顯示電路、鍵盤控制電路、時基電路、電源電路連接。

所述的高壓開關動特性測試儀校驗裝置，所述的殼體上具有顯示屏、操作按鍵，所述的顯示屏與所述的顯示電路連接，所述的操作按鍵與所述的鍵盤控制電路連接。

所述的高壓開關動特性測試儀校驗裝置，所述的微處理器是單片機，所述的單片機的型號為AT89S52。

所述的高壓開關動特性測試儀校驗裝置，所述的交直流轉換電路包括電阻R1、電阻R2、跟隨器U1、真有效值轉換器U2，所述的真有效值轉換器U2的型號為AD536，實現被測電壓的交、直流轉換。

所述的高壓開關動特性測試儀校驗裝置，所述的A/D轉換器包括A/?D芯片U3和外圍電路，所述的A/D芯片的型號為ICL7135，是4位半雙積分型轉換器。

有益效果：

1.?本發明的電量參數測量電路使輸入的電壓信號Ui經過衰減電路、交直流轉換電路接入A/D轉換器，變為數字信號，然后經光電耦合器A接入微處理器進行運算，經微處理器處理后的數據、信號以程序代碼的形式傳送到顯示電路，在殼體的顯示屏上給出測量結果，進而自動完成電量參數的校驗工作。

2.?本發明輸入的合、分閘等時間參數、機械參數信號經過放大電路、整流電路、調理電路和輸入電路，進行放大、整流、調理、整形，得到的數字信號經過光電耦合器B接入微處理器，微處理器對此信號進行識別和操作，輸出相應的測量開關參數或機械參數的觸發信號，去控制被校高壓開關特性測試儀的運行，并顯示開關參數或機械參數的測量結果。

3.?本發明將被檢高壓開關動特性測試儀與高壓開關動特性測試儀校驗裝置各端子對應相連，由校驗裝置給出合、分閘時間，合、分閘同期性及彈跳時間等測量時間參數的觸發信號，同時記錄被測高壓開關動特性測試儀相應參數的測量值，比較校驗裝置和測試儀二者的差異，即可實現被測高壓開關動特性測試儀各參數的校準。

4.?本發明的輸入信號處理電路與微處理器的接口，都是經過光電耦合器來實現信號的傳送的，這樣能夠將系統與現場進行電氣隔離，防止干擾的竄入，保證系統的運行穩定。

附圖說明：

附圖1是本發明的結構示意圖。

附圖2是附圖1中微處理器的第一部分的電路原理圖。

附圖3是附圖1中微處理器的第二部分的電路原理圖。

附圖4是附圖1中電源電路的電路原理圖。

附圖5是附圖1中交直流轉換電路與A/D轉換器連接的電路原理圖。

圖中：相同符號線路之間具有連接關系。

具體實施方式：

實施例1：