[發明專利]一種核素能譜尋峰方法

有效

• 申請號: 201410109038.2
• 申請日: 2014-03-24
• 公開（公告）號: CN103913765A
• 公開（公告）日: 2014-07-09
• 發明（設計）人: 畢明德;程翀;代傳波;廖武;羅鵬;王益元;藺常勇;陳祥磊
• 申請（專利權）人: 中國船舶重工集團公司第七一九研究所
• 主分類號: G01T1/36
• 分類號: G01T1/36
• 代理公司: 武漢天力專利事務所 42208
• 代理人: 吳曉穎

1.一種核素能譜尋峰方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：

步驟1，對原始的能譜進行平滑，去除噪聲；

步驟2，對平滑后的能譜進行形態學白帽變換，將能譜分割為若干個零值和非零值區域；

步驟3，統計各個非零值區域的長度，濾除長度小于設定的最小峰寬閾值的假峰；

步驟4，在各個非零值區域中，尋找能譜峰峰位和左右邊界；

步驟5，根據計算得到的峰位、峰高和左右邊界對能譜峰進行判定。

2.根據權利要求1所述的核素能譜尋峰方法，其特征在于，所述步驟1具體為：

能譜平滑通過高斯濾波完成，濾波表達為一個卷積過程，表達式為：

其中f為原始能譜，y為濾波后的能譜，m為能譜數據的長度，g_i為高斯卷積核，表達式為：

其中σ為高斯函數標準差，高斯卷積核的長度等于2K+1，在實際能譜平滑過程中，卷積核長度取3~11之間，σ值取1~3之間。

3.根據權利要求1所述的核素能譜尋峰方法，其特征在于，所述步驟2具體為：

根據待檢測的能譜峰的特征選擇合適的形態學結構元素對平滑后的能譜進行形態學白帽變換：

用形態學結構元素B，對能譜y進行形態學白帽變換表達式如下：

其中為形態學開運算，表達式如下：

其中和分別為形態學膨脹與腐蝕變化，表達式如下：

結構元素B采用與橫坐標平行的直線段，結構元素的長度L為奇數，L設定為待檢測峰的最小峰寬的兩倍加1，在經過形態學白帽變換后，能譜被分割為若干個零值和非零值區域。

4.根據權利要求1所述的核素能譜尋峰方法，其特征在于，所述步驟3具體為：在經過白帽變換后的數據中，統計各個非零值區域的長度，如果該長度小于設定的最小峰寬閾值，則將該區域內所有的數據置為零值，以濾除假峰；所述最小峰寬閾值是指本尋峰方法所檢測到峰的最小寬度，小于該寬度的峰將被認為是假峰。

5.根據權利要求1所述的核素能譜尋峰方法，其特征在于，所述步驟4具體為：

在各個非零值區域中，尋找該區域的最大值y_p，該值所在的位置為峰位x_p，以峰位x_p為起點向左尋找峰左邊界，即x=x_p,?x_p-1,?x_p-2,…0,?直到下列邊界搜索條件中的任意一個不滿足為止，

此時的x值為峰左邊界x_L；

以峰位x_p為起點向右尋找峰右邊界，即x=x_p,?x_p+1,?x_p+2,…N,?直到下列條件中的任意一個不滿足為止，

此時的x值為峰左邊界x_R，

其中C為置信度系數常數，取1-3之間。

6.根據權利要求1所述的核素能譜尋峰方法，其特征在于，所述步驟5具體為：

根據計算得到的峰位、峰高和左右邊界對能譜峰進行判定，判別式如下：

其中，H_p為(x_L,?y_L)和（x_R，y_R）在峰位x_p處的一階線性插值，T為預先設定的尋峰閾值，取1-3之間，如果滿足判別式，則認為該峰為真峰。