[發明專利]一種評價目的層段泥頁巖孔隙度方法

有效

• 申請號: 201410107095.7
• 申請日: 2014-03-21
• 公開（公告）號: CN103822866A
• 公開（公告）日: 2014-05-28
• 發明（設計）人: 陳方文;丁雪;盧雙舫
• 申請（專利權）人: 中國石油大學（華東）
• 主分類號: G01N15/08
• 分類號: G01N15/08
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種評價目的層段泥頁巖孔隙度方法，其特征在于：

步驟1：對目的層段不同深度點泥頁巖取心樣品分別進行X衍射全巖分析、X衍射粘土礦物相對含量、有機碳含量分析和烘干樣品塊體密度測量，結合各種成分真密度計算各深度點泥頁巖樣品總孔隙度，總孔隙度的單位為%；

步驟2：針對目的層段泥頁巖儲層特征，選取代表性樣品進行熱模擬實驗，結合研究區沉積埋藏史和熱史，利用化學動力學方法計算生烴所形成的有機孔隙度，有機孔隙度的單位為%；

步驟3：對目的層段泥頁巖一個深度點的樣品進行氬離子拋光和電子掃描顯微鏡觀察，統計該深度點處若干個視域面中有機質顆粒上有機孔隙的面孔率，并計算有機孔隙的平均面孔率，結合有機質含量按下列公式求取有機孔隙度，有機孔隙度的單位為%，

式中：Φ_organic為頁巖樣品有機孔隙度，單位為%；SPR是頁巖樣品的有機質顆粒上的平均有機孔隙面孔率，單位為%；TOC是頁巖樣品的有機碳含量，單位為%；ρ_rock是頁巖樣品的密度，單位為g/cm³；ρ_organic是頁巖樣品中有機質的密度，單位為g/cm³；

步驟4：利用步驟3求取的有機孔隙度與步驟2計算的同一深度點有機孔隙度的比值作為校正系數，用校正系數乘以步驟2計算的目的層段不同深度點的有機孔隙度，得到目的層段不同深度點泥頁巖樣品的有機孔隙度，有機孔隙度的單位為%；

步驟5：計算步驟1中獲得的目的層段各深度點泥頁巖樣品的總孔隙度和步驟4中獲得各深度點泥頁巖樣品的有機孔隙度在相同深度點的差值，即得到目的層段各深度點泥頁巖樣品的無機孔隙度，無機孔隙度的單位為%。

2.根據權利要求1所述的一種評價目的層段泥頁巖孔隙度方法，其特征在于：

在步驟3中統計各視域面中有機顆粒上有機孔隙的面孔率過程中，統計孔隙直徑大于2nm的有機孔隙的分布頻率，依據不同孔隙直徑的有機孔隙分布規律推測場發射掃描電子顯微鏡照片中無法識別的孔隙直徑范圍為0-2nm的有機孔隙分布頻率，對場發射掃描電子顯微鏡照片中無法識別的孔隙直徑小于2nm的有機孔隙按照近似圓形求取它們的面孔率，然后結合孔隙直徑大于2nm的有機孔隙的面孔率值，求得有機質顆粒上所有有機孔隙的面孔率。